[发明专利]馈通线圈组件、带有馈通线圈组件的测试装置和测试方法

权利要求书

1. 一种用于应用在用于借助于涡流以馈通方法测试长形产品的测试装置中的馈通线圈组件(100)，其包括：

带有激励线圈(122)的激励线圈组件，其包围用于沿着馈通方向(192)引导长形产品(190)穿过的通过口(112)，其中，所述激励线圈组件具有用于所述激励线圈联接到交变电压源(130)处的联接装置；和

围绕所述通过口布置的接收线圈组件，其具有用于所述接收线圈组件联接到所述测试装置的评估装置(150)处的联接装置(148)，

其中，所述接收线圈组件具有分布在所述通过口(112)的周缘上的两个或更多个部段线圈组件(142-1至142-8, 742-1至742-8)，其中，每个部段线圈组件具有检测区域，其仅覆盖所述长形产品的表面的周缘的一周缘截段，

其特征在于，

所述部段线圈组件(142-1至142-8, 742-1至742-8)以与所述馈通线圈组件的参考轴线(114)的不同的距离(A1, A2)分布在包围所述通过口的至少两个壳上(S1, S2)，

其中，第一部段线圈组件(142-1至142-4, 742-1至742-4)无相互重叠地布置在第一壳(S1)上并且，

第二部段线圈组件(142-5至142-8, 742-5至742-8)无相互重叠地布置在第二壳(S2)上，并且

第一和第二部段线圈组件在周向上彼此在周缘上错位地布置成使得所述第二部段线圈组件检测不被所述第一部段线圈组件覆盖的周缘截段。

2. 根据权利要求1所述的馈通线圈组件，其特征在于，第一部段线圈组件(142-1至142-4)以与中央的参考轴线的第一径向距离(A1)布置在圆柱状的第一壳(S1)上而所述第二部段线圈组件(142-5至142-8)以不同于所述第一径向距离的与中央的所述参考轴线的第二径向距离(A2)布置在圆柱状的第二壳(S2)上。

3. 根据权利要求1所述的馈通线圈组件，其特征在于，所述壳(S1, S2)具有不同于圆形的横截面形状，优选地椭圆的横截面形状、卵形的横截面形状或多边形的横截面形状、尤其带有倒圆的角区域的方形的横截面形状。

4. 根据上述权利要求中任一项所述的馈通线圈组件，其特征在于，在壳上、尤其在每个壳(S1, S2)上布置有偶数个部段线圈组件并且/或者在壳、多个壳或所有壳上设置有至少一对在直径上相对而置的部段线圈组件。

5. 根据上述权利要求中任一项所述的馈通线圈组件，其特征在于，所有部段线圈组件(142-1至142-8, 742-1至742-8)分别具有差动线圈组件，其中，所述差动线圈组件优选地布置成使得能够在长形产品的整个周缘处检测差动信号。

6. 根据上述权利要求中任一项所述的馈通线圈组件，其特征在于，部段线圈组件(542)具有差动线圈组件(520)和绝对线圈组件(530)，其中，优选地所有部段线圈组件具有差动线圈组件和绝对线圈组件。

7. 根据权利要求6所述的馈通线圈组件，其特征在于，所述差动线圈组件(520)和所述绝对线圈组件(530)布置在共同的承载元件(510)处，其中，优选地所述承载元件(510)具有内表面和外表面，其中，差动线圈组件(520)和绝对线圈组件(530)布置在所述承载元件的相同的表面处。

8. 根据上述权利要求中任一项所述的馈通线圈组件，其特征在于，在部段线圈组件(542)中所述差动线圈组件(520)对称于所述激励线圈组件(122)的线圈平面来布置而所述绝对线圈组件(530)不对称于所述线圈平面地至少部分地布置在由所述激励线圈组件所产生的场的不均匀的场区域(FI)中。

9. 根据上述权利要求中任一项所述的馈通线圈组件，其特征在于，绝对线圈组件(530)对称于所述激励线圈组件(122)的线圈平面地在所述线圈平面之前的不均匀的第一场区域中具有第一子线圈组件(530-1)而在所述线圈平面之后的不均匀的第二场区域中具有第二子线圈组件(530-2)，其中，所述第一线圈组件和所述第二子线圈组件反向地接通。

10. 根据上述权利要求中任一项所述的馈通线圈组件，其特征在于，在周缘上错位的多个绝对线圈组件、尤其所有绝对线圈组件联接到用于处理在绝对线圈组件处产生的距离信号的距离评估装置(152)处。