[发明专利]医用图像处理装置及X射线计算机断层摄影装置有效
申请号: | 201380001694.4 | 申请日: | 2013-08-26 |
公开(公告)号: | CN103764037B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | 高松裕子;田口博基 | 申请(专利权)人: | 东芝医疗系统株式会社 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;李洋 |
地址: | 日本枥木*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 医用 图像 处理 装置 射线 计算机 断层 摄影 | ||
技术领域
本发明的实施方式涉及一种医用图像处理装置及X射线计算机断层摄影装置。
背景技术
以往,有一种通过X射线计算机断层摄影(CT:Computed Tomography)装置并使用多种不同的管电压进行摄影来获得图像的方法。在使用两种不同的管电压时,相关方法被称为“Dual Energy CT:双能量CT”。另外,在“Dual Energy CT:双能量CT”中,已知将通过两种不同的管电压获得的两个投影数据分离成预先设定的两个基准物质的各自的投影数据(线积分数据),分别根据分离得到的两个数据来重建基于基准物质的存在率的图像(基准物质图像)的应用技术。相关应用技术中,通过使用两个基准物质图像进行加权计算处理,能够获得单色X射线图像、密度图像、有效原子序数图像等各种图像。
上述应用技术对于射束硬化所导致的伪影的校正是有效的。但是,作为伪影,除了射束硬化以外,还有基于高吸收体的投影数据的精度恶化所导致的伪影、散乱线所导致的伪影等各种伪影。
尤其是,伪影多由于基于高吸收体的投影数据的精度恶化而产生。这是因为,如果金属等线吸收系数大的物质存在于摄影对象中,那么在低管电压的摄影时,检测器的计数变得微小,无法得到正确的投影数据。这时,无法准确得到基准物质的投影数据,其结果为,得到的单色X射线图像中,产生例如欠缺高吸收体周边的信息的伪影等。上述的应用技术中,无法生成去除了射束硬化以外的伪影的影响的单色X射线图像。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2009-261942号公报
发明内容
本发明要解决的课题在于提供一种能够提取单色X射线图像中产生的伪影的医用图像处理装置及X射线CT装置。
实施方式的医用图像处理装置具备分离部、重建部、以及提取部。分离部将投影数据分离成预先设定的至少两个以上的多个基准物质各自的线积分数据。重建部根据上述多个基准物质各自的线积分数据,来重建各像素的像素值表示存在于该像素中的基准物质的存在率的基准物质图像数据。提取部基于根据上述多个基准物质各自的基准物质图像数据算出的各像素的减弱系数,来提取伪影区域。
附图说明
图1是表示第1实施方式的X射线CT装置的整体构成例的图。
图2是表示第1实施方式所涉及的前处理部及图像生成部的构成例的图。
图3是用于说明第1实施方式所涉及的提取部的图。
图4是表示第1实施方式所涉及的校正部的处理结果的一个例子的图。
图5是表示第1实施方式的处理的概要的图。
图6是表示第1实施方式所涉及的X射线CT装置的处理例的流程图。
图7A是用于说明第4实施方式的图(1)。
图7B是用于说明第4实施方式的图(2)。
具体实施方式
以下,参照所添附的附图,详细说明医用图像处理装置的实施方式。另外,以下说明中,将作为医用图像处理装置而发挥功能的X射线计算机断层摄影(CT:Computed Tomography)装置作为实施方式进行说明。
(第1实施方式)
首先,使用图1对于第1实施方式所涉及的X射线CT装置的整体构成的一个例子进行说明。图1是表示第1实施方式的X射线CT装置的整体构成例的图。如图1所示,第1实施方式所涉及的X射线CT装置具备:架台装置10、寝台装置20、及控制台装置30。
架台装置10是对被检体P照射X射线并收集X射线检测数据的装置,其具备高电压产生部11、X射线管12、X射线检测器13、数据收集部14、旋转框架15以及架台驱动部16。
高电压产生部11是产生高电压并将所产生的高电压供给至X射线管12的装置。X射线管12是利用从高电压产生部11供给的高电压来产生X射线的真空管,X射线管12所产生的X射线对被检体P进行照射。
X射线检测器13是用于检测表示从X射线管12照射并透过被检体P的X射线的强度分布的X射线检测数据的检测器。即,X射线检测器13检测表示在被检体P的体内所产生的X射线吸收的程度的X射线检测数据。例如,X射线检测器13是沿被检体P的体轴方向(图1所示的Z轴方向)多列排列检测元件列的二维阵列型检测器,其中,检测元件列沿通道方向(图1所示的Y轴方向)排列有多个X射线检测元件。
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