[发明专利]用于检测散射光信号的设备和方法

权利要求书

1.一种用于检测散射光信号的设备（100），其中该设备包括：

光源（10）；

用于检测散射光的多个光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）；以及

用于评估由所述光传感器检测到的信号的评估单元，其中

所述光源（10）在一个散射光区域（15）内发射光，从而入射光定义入射轴（11），

其中所述光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）中的每一个光传感器以相对于所述入射轴（11）的传感器角度（W1、W2、W3、W4、W5、W6、W7、W8、W9、W10）而被布置从而检测来自所述散射光区域（15）的散射光，其中所述多个光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）中的至少一者为参考传感器，

其中为了分类任何可能存在于所述散射光区域（15）内的颗粒的类型，所述评估单元被设计为将其它光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）的信号轮廓与所述至少一个参考传感器的信号轮廓相关联。

2.根据权利要求1所述的设备（100），其中所述评估单元还被设计为优选地根据被分类的颗粒类型自动区分火参数和错误变量。

3.根据权利要求1或2所述的设备（100），其中还提供了警报设备，该警报设备被设计为优选地根据被分类的颗粒类型自动发射警报。

4.根据权利要求3所述的设备（100），其中所述警报设备将针对其发出警报的颗粒类型是预设的或可预设的。

5.根据权利要求3或4所述的设备（100），其中所述警报设备被设计为发出独立于阈值的警报。

6.根据权利要求3至5中任一项权利要求所述的设备（100），其中所述警报设备被设计为根据被分类的颗粒类型，发射不同的信号，尤其是警报或无危险信号。

7.根据权利要求1至6中任意一项权利要求所述的设备（100），其中所述多个传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）中的以基本直角的传感器角度（W3）布置的一个传感器（23）是参考传感器。

8.根据权利要求1至7中任意一项权利要求所述的设备，其中所述评估设备还被设计为将从所述多个光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）检测到的信号的信号轮廓中得到的数据与信号模式相比较，并且一旦存在与信号模式足够高的对应度，发射用于标识被分类的颗粒类型的标识信号。

9.根据权利要求1至8中任意一项权利要求所述的设备，其中所述评估设备还被设计为根据由所述参考传感器检测到的所述散射光的强度，确定颗粒级别。

10.根据权利要求1至9中任意一项权利要求所述的设备，其中所述评估设备还被设计为直到所述颗粒级别超出最小颗粒级别时才执行模式匹配。

11.根据权利要求1至10中任意一项权利要求所述的设备，其中所述光源（10）大体上发射波长范围在大约560至大约420纳米范围内的单色光。

12.根据权利要求1至11中任意一项权利要求所述的设备，其中所述光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）中的至少一个光传感器包括用于偏振将被检测的散射光的偏振滤波器（41、42、43、44、45、46、47、48、49、50）。

13.根据权利要求12所述的设备，其中所述多个光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）各自包括偏振滤波器（41、42、43、44、45、46、47、48、49、50），其中至少两个偏振滤波器（41、42、43、44、45、46、47、48、49、50）的偏振平面被布置为大体上彼此垂直。

14.根据权利要求12所述的设备，其中所述光传感器（21、22、23、24、25、26、27、28、29、30）中的每个光传感器各自包括偏振滤波器（41、42、43、44、45、46、47、48、49、50），其中至少两个偏振滤波器（41、42、43、44、45、46、47、48、49、50）的偏振平面被布置为大体上彼此垂直。