[发明专利]磁共振成像装置以及频移量测定方法

说明书

技术领域

本发明的实施方式涉及磁共振成像装置以及频移量测定方法。

背景技术

磁共振成像(MRI：Magnetic Resonance Imaging)装置通过拉莫尔频率的RF信号，对放置在静磁场中的被检体的原子核自旋磁性地进行激励，根据伴随该激励而产生的MR信号重构图像。

在该种MRI装置中，降低使图像的图像质量降低的涡电流等各种影响是重要的。

【专利文献1】美国专利申请公开第2006/0022674号说明书

发明内容

但是，由于脉冲序列的执行、随时间的变化等各种主要原因，MRI装置的静磁场强度有时变动。另一方面，静磁场强度和共振频率处于比例关系。因此，如果静磁场强度变动，则在倾斜磁场施加时发生与施加量对应的频移，从而有时中心频率变动。根据倾斜磁场线圈的调整状态而变动量变化，但由于该现象，在成像中被激励了的原子核的相位受到调制，所以按照SNR降低、灵敏度不均匀这样的形式，图像质量降低。因此，在产生频移的情况下，优选定量地测定频移量，降低由频移所致的针对图像质量的影响。

本发明是考虑上述情况而完成的，其目的在于提供一种能够定量地测定频移量的磁共振成像装置以及频移量测定方法。

附图说明

图1是示出本发明的第1实施方式的MRI装置的一个结构例的框图。

图2是示出基于主控制部的CPU的功能实现部的结构例的概略的框图。

图3是示出为了定量地测定频移量而执行的序列的一个例子的说明图。

图4是示出图3所示的第1、第2以及第3序列的期间I以及期间II、与频移、涡电流以及环境噪声的信号极性的关系的一个例子的说明图。

图5是示出通过第1频移量测定方法测定频移量时的工序的一个例子的流程图。

图6是示出通过第2频移量测定方法测定频移量时的工序的一个例子的流程图。

图7是示出通过第3频移量测定方法测定频移量时的工序的一个例子的流程图。

图8是示出通过第4频移量测定方法测定频移量时的工序的一个例子的流程图。

图9是示出通过第1频移量校正方法从MR图像降低频移的影响时的工序的一个例子的流程图。

图10是示出通过第2频移量校正方法从MR图像降低频移的影响时的工序的一个例子的流程图。

图11是示出通过第3频移量校正方法根据相位图像降低频移的影响时的工序的一个例子的流程图。

具体实施方式

参照附图，说明本发明的磁共振成像装置以及频移量测定方法的实施方式。

本发明的一个实施方式的磁共振成像装置为了解决上述课题，具备：相位图像生成部，通过执行施加双极倾斜磁场脉冲的序列，生成第1相位图像；图像值取得部，取得第1相位图像的图像值；以及频移量计算部，根据第1相位图像的图像值、和双极倾斜磁场脉冲的磁场强度，求出每单位倾斜磁场量的频移量。

图1是示出本发明的第1实施方式的MRI装置10的一个结构例的框图。

MRI装置10具有在机架中内置了形成静磁场的筒状的静磁场用磁铁11、在该静磁场用磁铁11的内部设置的匀场线圈12、倾斜磁场线圈单元13以及RF线圈单元14的结构。

另外，MRI装置10具有控制系统20。控制系统20具有静磁场电源21、倾斜磁场电源22、匀场线圈电源23、发送器24、接收器25、序列控制器26以及信息处理装置30。

控制系统20的倾斜磁场电源22具有X轴倾斜磁场电源22x、Y轴倾斜磁场电源22y以及Z轴倾斜磁场电源22z。

信息处理装置30具有输入部31、显示部32、存储部33以及主控制部34。

静磁场用磁铁11与静磁场电源21连接，通过从静磁场电源21供给的电流，在摄像区域中形成静磁场。静磁场用磁铁11由超导线圈构成，在励磁时与静磁场电源21连接而供给电流，但也可以在一旦励磁之后成为非连接状态。另外，静磁场用磁铁11也可以由永磁铁构成，在该情况下，也可以不设置静磁场电源21。

另外，在静磁场用磁铁11的内侧，在同轴上设置筒状的匀场线圈12。匀场线圈12与匀场线圈电源23连接，从匀场线圈电源23向匀场线圈12供给电流，以使静磁场均匀化。