[发明专利]表征起皱材料的方法

权利要求书

1.一种表征起皱材料的表面的构形的方法，其包括：

定向一个或多个光源，所述光源配置为从两个或更多个位置照射起皱材料的第一表面，其中，所述两个或更多个位置中的每个位置由相对起皱材料的加工方向和起皱方向的倾斜角以及相对起皱材料的第一表面的歪斜角来表征；

获得所述起皱材料的所述第一表面的相同部分的至少两个图像，每一图像俘获从不同方向照射的所述第一表面，其中，所述至少两个图像中的第一图像从所述两个或更多个位置中的第一位置照射，所述至少两个图像中的第二图像从所述两个或更多个位置中的第二位置照射；

从所述至少两个图像近似至少两个表面法向量，所述至少两个表面法向量分别对应于所述起皱材料的所述第一表面的至少两个部分；

将所述至少两个表面法向量转换为梯度图像数据；以及

分析所述梯度图像数据以表征所述起皱材料的所述第一表面的构形。

2.根据权利要求1所述的方法，其中分析包括：

从所述梯度图像数据计算二维傅立叶变换；以及

从所述二维傅立叶变换计算二维功率谱。

3.根据权利要求2所述的方法，其中计算二维功率谱包括：平滑所述二维功率谱。

4.根据权利要求3所述的方法，其中平滑所述二维功率谱包含：

获得经滤波的二维功率谱；

针对所述二维功率谱中的每一点确定初始功率谱与所述经滤波的二维功率谱的比率；

将所述谱中的每一点与阈值进行比较，其中高于所述阈值的点是标记点；

通过围绕最大峰值拟合二阶二维多项式来估计谱峰的位置，其中所述谱峰中的至少一者对应于所述标记点；以及

用所述标记点的邻域中功率谱的值代替所述标记点周围的值。

5.根据权利要求3所述的方法，其中平滑所述二维功率谱包含：

获得中值滤波的二维功率谱；

针对所述二维功率谱中的每一点确定初始功率谱与所述中值滤波功率谱的比率；

将所述二维功率谱中的每一点与阈值进行比较，其中高于所述阈值的点是标记点；

通过围绕最大峰值拟合二阶二维多项式来估计谱峰的位置，其中所述谱峰中的至少一者对应于所述标记点；以及

用所述标记点的邻域中功率谱的值代替所述标记点周围的值。

6.根据权利要求4所述的方法，其中分析包括

将经平滑二维功率谱变换到极坐标系，从而产生极坐标系经平滑功率谱；以及

从所述极坐标系经平滑功率谱估计一维概率分布。

7.根据权利要求6所述的方法，其中变换包括通过在极坐标系中将来自所述经平滑功率谱的在-45与+45度的角度之间的值一起求和来估计所述一维概率分布。

8.根据权利要求6所述的方法，其中分析包括通过确定所述一维概率分布的度量来确定所述起皱材料的皱纹频率。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述度量是所述一维概率分布的平均值、众数或中值。

10.根据权利要求6所述的方法，其中分析包括通过计算中值来确定所述起皱材料的皱纹频率。

11.根据权利要求6所述的方法，其中分析包括通过在每英寸0到254个皱条的范围内计算所述一维概率分布来确定所述起皱材料的皱纹频率。

12.一种表征起皱材料的表面的构形的方法，其包括：

由计算装置定向一个或多个光源，所述光源配置为从两个或更多个位置照射起皱材料的第一表面，其中，所述两个或更多个位置中的每个位置由相对起皱材料的加工方向和起皱方向的倾斜角以及相对起皱材料的第一表面的歪斜角来表征；

由所述计算装置获得所述起皱材料的所述第一表面的相同部分的至少两个图像，每一图像是从不同方向照射，其中，所述至少两个图像中的第一图像从所述两个或更多个位置中的第一位置照射，所述至少两个图像中的第二图像从所述两个或更多个位置中的第二位置照射；

由所述计算装置从所述至少两个图像近似至少两个表面法向量，所述至少两个表面法向量分别对应于所述起皱材料的所述第一表面的至少两个部分；

由所述计算装置将所述表面法向量转换为加工方向梯度图像数据；以及

由所述计算装置分析所述梯度图像数据以表征所述起皱材料的所述第一表面的构形。