[发明专利]用于数字放射线照相的设备和方法有效
申请号: | 201380006602.1 | 申请日: | 2013-01-22 |
公开(公告)号: | CN104066376B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | G·罗顿多;F·里桑德雷罗;C·吉阿尼 | 申请(专利权)人: | 德格茨有限责任公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B6/06;A61B6/14 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 宋岩 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 数字 放射线 照相 设备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及用于借助组合的多传感器X射线成像设备的数字放射线照相(Digital Radiography)的方法,该数字放射线照相能够根据多种成像模式进行,该方法包括以下步骤:
-利用被检体(object)支持和定位系统将被检体定位在辐射源和X射线检测器之间;
-选择放射线成像模态(modality)和期望的感兴趣区域;
-通过一个或更多个X射线准直仪,根据选择的成像模态来调整X射线束的形状;
-将X射线检测器定位在X射线束中的预定位置;
-通过辐射源产生X射线辐射;
-进行移动以便扫描被检体,同时借助X射线检测器检测X射线辐射;
-进行X射线检测器图像数据的读出、采集和细化(elaboration),以便根据选择的成像模式获得选择的感兴趣区域的处理后图像或三维数据集。
本发明还涉及进行该方法的设备。
背景技术
能够根据多种成像模式进行成像的组合的X射线成像设备在现有技术中是众所周知的。
根据US 6118842,已知一种用于牙科和医疗诊断的配有单个传感器并且允许多种成像模式(即局部CT(计算机化断层摄影)成像和全景成像)的两用X射线成像设备。
根据US 6055292,已知另一种提供至少一个X射线检测器的设备,取决于选择的成像模式,该至少一个X射线检测器可被定位在多个成像位置,并相应地通过准直X射线束曝光。另外,根据US 7559692和US 7798708,已知一种包含可取决于成像模式定位的两个X射线检测器的单个可移动机箱的实施例。
EP 1752099教导一种组合的全景和计算机化断层摄影设备,其特征在于:X射线传感器部分配有两个X射线检测器并且可绕偏心轴旋转,以使得取决于选择的成像模式,不同的X射线检测器在距源优选距离处被置于X射线束中并且被曝露给辐射。
EP 1752100教导一种组合的全景和计算机化断层摄影设备,其特征在于:X射线传感器部分配有安装在旋转臂上的相对于源移位不同距离的两个X射线检测器。用于全景成像的X射线检测器位于更靠近源的位置并且当选择CT成像模式时能够滑动到射束之外。
EP 1752099教导一种组合的全景、计算机化断层摄影和头部测量(cephalometric)设备,其特征在于:X射线传感器部分配有可绕轴旋转或者可滑动移位的两个X射线检测器,以使得取决于选择的成像模式,不同的X射线检测器在距源优选距离处被置于X射线束中并且被曝露给辐射。
US 7783002教导一种组合的全景和计算机化断层摄影设备,其特征在于:固定的CT X射线检测器,和具有枢轴移动以在选择CT成像模式时将其转动到射束之外的可移动的全景X射线检测器。
WO 2010/128404教导一种组合的全景、计算机化断层摄影和头部测量设备,该设备具有延长的旋转臂,并且借助可移动台板的平移或者借助绕枢轴的转动来提供使检测器在距源预定距离处定位在X射束之中和之外的各种布置,包括其中全景和CT检测器在射束之外而用于头部测量的第三检测器被曝光的第三位置。
就头部测量成像模式来说,US 5511106教导一种通过位于患者附近并且借助与检测器的移动同步的直线移动而平移的二次准直仪来扫描患者颅骨的方法。
US 7103141教导一种通过调整管电压或者管电流或者扫描速度来在头部测量扫描过程期间调制辐射强度的方法。
US 2009/168966教导一种具有多种成像模式(计算机化断层摄影包含在其中)的组合设备,其中通过一次和二次准直机构,根据选择的成像模式改变辐射场;具体地,说明了各种准直仪布置,其中,二次准直仪基本上被提及用于CT检测器前方的邻近限制,并且未公开放置在相对于源在检测器之后的X射线传感器盒中的用于头部测量扫描的可移动二次准直。
EP 1752099教导一种用于全景和CT成像模式的组合设备,该设备具有可调节的放大率,并且教导一种用于附接和分离适当的X射线检测器的安装部件;不过,其未公开头部测量成像和用于头部测量的二次准直。
EP 2198783教导一种简化的X射线设备,该设备具有固定的二次准直仪,该二次准直仪被置于旋转臂的末端,通过所述旋转臂的旋转-平移运动被用于头部测量中的X射线扫描,不过EP 2198783未教导如下的用于头部测量中的X射线扫描的方法,其中,旋转臂稳定不动,使二次准直仪因检测器盒的平移运动而移动,在该检测器盒中,所述二次准直仪位于相对于源在检测器之后的位置。
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