[发明专利]银微粒及其制造方法以及含有该银微粒的导电性膏、导电性膜和电子设备无效
申请号: | 201380007258.8 | 申请日: | 2013-01-31 |
公开(公告)号: | CN104080561A | 公开(公告)日: | 2014-10-01 |
发明(设计)人: | 石谷诚治;山本洋介;岩崎敬介;大杉峰子;森井弘子;林一之 | 申请(专利权)人: | 户田工业株式会社 |
主分类号: | B22F1/00 | 分类号: | B22F1/00;B22F1/02;B82Y30/00;B82Y40/00;H01B1/00;H01B1/22;H01B5/00;H01B5/14 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微粒 及其 制造 方法 以及 含有 导电性 电子设备 | ||
1.一种银微粒,其特征在于:
平均粒径(DSEM)为30~100nm,振实密度为3.0g/cm3以上。
2.如权利要求1所述的银微粒,其特征在于:
BET比表面积值为7.0m2/g以下。
3.如权利要求1或2所述的银微粒,其特征在于:
微晶粒径(Dx)为30nm以上。
4.如权利要求1~3中任一项所述的银微粒,其特征在于:
银微粒表面的有机物残留量为0.5~2.0重量%。
5.如权利要求1~4中任一项所述的银微粒,其特征在于:
240℃的热收缩率为2.0%以上。
6.一种包含权利要求1~5中任一项所述的银微粒的导电性膏。
7.一种使用权利要求6所述的导电性膏形成的导电性膜。
8.一种具有权利要求7所述的导电性膜的电子设备。
9.一种银微粒的制造方法,其特征在于:
使用硝酸银和高分子保护剂制备水溶液(A液),与所述A液分别地制备溶解还原剂和低分子保护剂得到的水溶液(B液),在所述A液中滴加所述B液,使其还原析出,得到银微粒,对得到的银微粒进行分离、清洗、干燥,在该银微粒的制造方法中,在所述A液中滴加所述B液时的混合溶液的温度控制在40℃以下,并且通过真空冻结干燥进行干燥工序。
10.如权利要求9所述的银微粒的制造方法,其特征在于:
真空冻结干燥前的含水物的含水率为30%以上。
11.如权利要求9或10所述的银微粒的制造方法,其特征在于:
得到的银微粒为权利要求1~5中任一项所述的银微粒。
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