[发明专利]制造磷属元素化物吸收体膜和发射体膜之间导带偏移降低的光伏器件的方法有效
申请号: | 201380007512.4 | 申请日: | 2013-01-30 |
公开(公告)号: | CN104364910A | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | J·P·伯斯科;G·M·金伯尔;H·A·阿特瓦特;N·S·刘易斯;R·克里斯廷-利格曼菲斯特;M·W·德格鲁特 | 申请(专利权)人: | 陶氏环球技术有限责任公司;加利福尼亚技术学院 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/032;H01L31/072;H01L31/18 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 吴亦华 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 制造 元素 吸收体 发射 之间 偏移 降低 器件 方法 | ||
1.制造固态光伏异质结或其前体的方法,所述方法包括以下步骤:
a.提供磷属元素化物半导体膜;和
b.直接或间接在所述磷属元素化物半导体膜上形成硫属元素化物半导体膜,所述硫属元素化物半导体膜包含至少一种II族元素和至少一种VI族元素,并且其中至少与所述磷属元素化物半导体膜靠近的所述硫属元素化物半导体膜的部分掺入了至少一种调节剂,与没有或具有较少量的至少一种调节剂的在相同条件下形成的其他方面相同的硫属元素化物半导体膜组成相比,所述至少一种调节剂降低所述磷属元素化物半导体膜与所述硫属元素化物半导体膜之间的导带偏移。
2.权利要求1的方法,其中所述磷属元素化物半导体膜包含锌和磷。
3.权利要求1的方法,其中所述磷属元素化物半导体膜包含合金组合物。
4.权利要求3的方法,其中所述合金组合物靠近所述磷属元素化物半导体膜和所述硫属元素化物半导体膜之间的界面。
5.权利要求1的方法,其中所述磷属元素化物半导体膜包含Al、Ga、In、Tl、Sn和Pb的至少一种。
6.权利要求1的方法,其中所述磷属元素化物半导体膜包含B、F、S、Se、Te、C、O和H的至少一种。
7.权利要求1的方法,其中所述硫属元素化物半导体膜包含S和/或Se。
8.权利要求1的方法,其中所述硫属元素化物半导体膜包含Zn、S和Mg。
9.权利要求1的方法,其中所述硫属元素化物半导体膜包含Zn、S、Se和Mg。
10.权利要求1的方法,其中所述至少一种调节剂以使得所述磷属元素化物半导体膜和所述硫属元素化物半导体膜之间的导带偏移小于0.1eV的量使用。
11.权利要求1的方法,其中所述至少一种调节剂以有效达到所述磷属元素化物半导体膜和所述硫属元素化物半导体膜之间所期望的预先确定的导带偏移的量使用。
12.权利要求1的方法,其中所述至少一种调节剂选自Mg、Ca、Be、Li、Cu、Na、K、Sr、Sn和/或F的一种或多种。.
13.权利要求1的方法,其中所述至少一种调切剂选自Mg、Ca、Be、Sr、Sn和/或F的一种或多种。.
14.权利要求1的方法,其中所述至少一种调节剂包含Mg。
15.权利要求1的方法,其中所述硫属元素化物半导体膜包括含有1至80原子%的所述至少一种调节剂的部分。
16.权利要求15的方法,其中所述至少一种调节剂被掺入与所述磷属元素化物半导体膜靠近的所述硫属元素化物半导体膜的部分中。
17.权利要求15的方法,其中所述至少一种调节剂以1至80原子%的平均含量被掺入整个所述硫属元素化物半导体膜中。
18.制造固态光伏异质结或其前体的方法,所述方法包括以下步骤:
a.提供p-型磷属元素化物半导体膜;和
b.直接或间接在所述p-型磷属元素化物半导体膜上形成n-型半导体膜,所述形成包括以下步骤:
i.加热包含至少一种II族元素和至少一种VI族元素的化合物以产生蒸气物质;
ii.将所述蒸气物质或其衍生物直接或间接沉积到所述p-型磷属元素化物半导体膜上;和
iii.在沉积所述n-型半导体膜的至少一部分时间期间,在使得至少与所述p-型磷属元素化物半导体膜靠近的所形成的n-型半导体膜的部分掺入Mg和/或Ca中的至少一种的条件下共沉积Mg和Ca的至少一种。
19.光伏器件,其包含:
(a)包含至少一种p-型磷属元素化物半导体组成的p-型区;和
(b)直接或间接提供在所述吸收体区上的n-型区,所述n-型区包含至少一种II族元素和至少一种VI族元素,并且其中至少与所述p-型吸收体区靠近的所述n-型区的部分掺入了Mg和/或Ca中的至少一种。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陶氏环球技术有限责任公司;加利福尼亚技术学院,未经陶氏环球技术有限责任公司;加利福尼亚技术学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380007512.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的