[发明专利]在MRI设备中使用的纳米颗粒RF屏蔽在审
申请号: | 201380007719.1 | 申请日: | 2013-01-29 |
公开(公告)号: | CN104094129A | 公开(公告)日: | 2014-10-08 |
发明(设计)人: | M·J·A·M·范赫尔沃特 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01R33/422 | 分类号: | G01R33/422 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李光颖;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mri 设备 使用 纳米 颗粒 rf 屏蔽 | ||
技术领域
本发明涉及一种在可操作的MR(磁共振)扫描器中使用的纳米颗粒射频(RF)屏蔽。
背景技术
在磁共振(MR)成像扫描器中,静磁场(B0)用于对齐人体中的质子。由梯度线圈创建的梯度磁场可以被叠加到静磁场,从而获得的信号能够与准确的位置相关联。通过使用对应于高达若干kHz频率f梯度的脉冲技术可以应用梯度磁场。根据B0磁场强度和磁场强度B1,以通常在10MHz与100MHz之间的无线电波频率fRF操作所谓的射频(RF)线圈,以激励人体中的质子或其他原子核,所述人体中的质子和其他原子核随后发射RF磁共振信号。RF体线圈一般用于对在一个设备中的RF发射和磁共振信号接收进行组合。至少出于预防RF体线圈中的信号噪声的原因,最期望在10MHz与100MHz之间的射频处由RF屏蔽将梯度线圈和RF体线圈解耦。而且,应当保持RF体线圈关于其相对于梯度线圈的的位置的灵敏度。作为目的,RF屏蔽理论上应当使射频衰减,但是对梯度磁场的脉冲的频率应当是透明的。
在一般的解决方案中,例如由铜包叠层制成的导电板配备有狭缝(slit),使得在铜屏蔽中能够感应涡电流。这些狭缝由电容器桥接,其阻抗在低频处为高而在高频处为低,从而对于梯度线圈的低频不能够感应涡电流,但是对于RF体线圈的高频能够感应涡电流。
在图1中图示的常规RF屏蔽中,提供某个厚度的导电层,在所述导电层中,RF场通过感应生成涡电流,其导致指向与其成因相反方向的磁场,由此衰减导电层内部的RF场。对于低于由层材料的导电率确定的频率f1的频率,不发生磁场的屏蔽(图1的区域A)。
甚至当穿透深度小于层厚度时,涡电流成因阻尼的纵向起始与频率成比例,直到频率f2,所述涡电流成因阻尼的纵向起始与衰减和未衰减RF能量的比率的对数成比例。在频率f2处,穿透深度变得小于导致以指数方式增加阻尼的厚度(在对数标度上)。
为了实现上述目的,要求在梯度磁场的频率处,屏蔽应当在图1的阻尼曲线的区域A之内,并且对于RF频率,屏蔽应当在区域C之内。
换言之:f梯度≤f1并且fRF≥f2。不幸地,根据如下在各向同性的导体材料(如金属)中f1和f2是相关的:
f1=(μ0·σ·d·w)-1,以及
f2=(μ0·μr·σ·d2)-1=(f1·w)/(μrrd)
其中,d指示导电材料的厚度,w指示RF屏蔽的最大尺寸,σ指示各向同性材料的导电率,μ0指示真空的导磁率,并且μr指示各向同性材料的相对导磁率。在MR成像扫描器应用中,要求μr=1,以避免静磁场B0的畸变,由此
f2/f1=w/d (等式(I))
因为由上述的MR扫描器成像应用要求预先确定比率f2/f1,固定由要被屏蔽的对象给出的尺寸w与导电材料的厚度d的比率。
发明内容
因此,本发明的目的是提供一种衰减射频波的RF屏蔽,所述射频波用于在MR成像扫描器的操作期间激励人体中的质子或原子核,并且同时,对梯度磁场脉冲是透明的。在该应用中使用的“透明”一词应当被具体地理解为使得在能量方面由RF屏蔽使电磁场衰减小于6dB,优选小于3dB。
在本发明的一个方面,由在磁共振(MR)成像扫描器中使用的射频(RF)屏蔽实现该目的,所述射频(RF)屏蔽包括载体和多个纳米颗粒,其中,在操作状态下,多个纳米颗粒不可移动地被连接到载体,并且沿着空间中的方向对齐,并且其中,多个纳米颗粒在空间中的方向上具有各向异性导电率。
通过使用在至少一个方向上具有各向异性导电率的多个纳米颗粒,针对RF屏蔽的布局给出更多设计自由度,因为经由:
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