[发明专利]测量物质浓度的传感器装置

权利要求书

1.一种用于在干扰物的存在下测定开放式样品(130)中物质的浓度的传感器装置，所述传感器装置包括：

第一光源(200)，其发射被所述物质吸收的第一波长下的脉冲光(S₁)，

第二光源(210)，其发射透过所述物质的第二波长下的脉冲光(S₂)，

光学装置(250、252、254、310、320、330、340)，其用于沿相同的光路将所发射的所述第一波长和第二波长的脉冲光(S₁、S₂)的至少一部分引导通过所述开放式样品(130)，以及

样品检测器(230)，其布置在所述光路的末端用于接收所发射的透过所述样品(130)的所述第一波长和第二波长的光(S₁、S₂)，其中

所述干扰物作为沉积物形成在暴露于所述物质的所述光学装置(250、252、254、310、320、330、340)中的至少一个上，并且其中所述第一波长和第二波长被所述干扰物吸收。

2.根据权利要求1所述的传感器装置，其中所述第一光源(200)、所述第二光源(210)、以及所述样品检测器(230)布置在所述样品(130)的同一侧上。

3.根据权利要求2所述的传感器装置，其中所述光学装置包括布置在所述样品(130)的第二侧上的反射器(320、330)，所述反射器(320、330)一起适于将所述光(S₁、S₂)重新引导至所述样品检测器。

4.根据权利要求3所述的传感器装置，其中所述反射器(320、330)为后向反射器棱镜(350)的表面，其中反射通过全内反射实现。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的传感器装置，其还包括参考检测器(220)，该参考检测器(220)用于接收所发射的所述第一波长和第二波长的光(S₁、S₂)的不透过所述样品(130)的一部分。

6.根据权利要求5所述的传感器装置，其中所述参考检测器(220)与所述第一光源(200)、所述第二光源(210)以及所述样品检测器(230)布置在所述样品(130)的相同侧上。

7.根据权利要求5或6所述的传感器装置，还包括控制器(240)，所述控制器(240)连接至所述第一光源(200)、所述第二光源(210)、所述样品检测器(230)以及所述参考检测器(220)，并被配置成以脉冲顺序激活所述第一光源(200)和第二光源(210)，所述控制器还被配置成将所述样品检测器(230)和所述参考检测器(220)的接收信号(F₁、F₂)与相关的所述光源(200、210)相关联。

8.根据权利要求7所述的传感器装置，其中所述控制器(240)还被配置成在不激活所述第一光源(200)和所述第二光源(210)中的任一个的情况下，将所述样品检测器(230)和所述参考检测器(220)的接收信号(F₁、F₂)关联作为背景光。

9.根据前述权利要求中任一项所述的传感器装置，其中所述第一光源(200)为UV-LED。

10.根据权利要求7-9中任一项所述的传感器装置，其中所述控制器(240)被配置成控制所述第一光源(200)和所述第二光源(210)的温度，并且在该温度超过所存储的参考温度时关闭所述源。

11.根据权利要求6-10中任一项所述的传感器装置，其中将所述第一光源(200)、所述第二光源(210)、所述样品检测器(230)以及所述参考检测器(220)封闭在与所述样品(130)隔离的第一壳体(110)中。