[发明专利]使用离子阱跨越质量范围进行连续窗口化获取的系统及方法有效
申请号: | 201380010818.5 | 申请日: | 2013-03-15 |
公开(公告)号: | CN104160473B | 公开(公告)日: | 2017-03-15 |
发明(设计)人: | 布鲁斯·安德鲁·科林斯 | 申请(专利权)人: | DH科技发展私人贸易有限公司 |
主分类号: | H01J49/26 | 分类号: | H01J49/26;G01N27/62 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 | 代理人: | 曹晓斐 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 离子 跨越 质量 范围 进行 连续 窗口 获取 系统 方法 | ||
1.一种用于质谱数据的连续窗口化获取的系统,其包括:
质谱仪,其包含离子阱及质量分析器;及
处理器,其与所述质谱仪通信,所述处理器:
接收样本的质量范围及质量窗口宽度参数,
指示所述质谱仪在所述离子阱中收集来自所述样本的在所述质量范围内的多个离子,
使用所述质量窗宽度参数计算跨越某一质量范围的两个或两个以上邻近或重叠质量窗,且
指示所述质谱仪从所述离子阱喷射所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗内的离子且使用所述质量分析器从所述每一质量窗的所述所喷射离子中检测质谱,从而产生所述质量范围的质谱集合。
2.根据权利要求1所述的系统,其中所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗具有相同的宽度。
3.根据权利要求2所述的系统,其中处理器指示所述质谱仪通过针对所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗使用具有不同激励频率范围的不同波形而从所述离子阱喷射所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗内的离子。
4.根据权利要求3所述的系统,其中具有不同激励频率范围的不同波形在所述质谱仪从所述离子阱喷射任何离子之前由所述处理器针对所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗而计算且存储在所述质谱仪上。
5.根据权利要求1所述的系统,其中所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗具有不同的宽度。
6.根据权利要求5所述的系统,其中处理器指示所述质谱仪通过针对所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗使用具有相同激励频率范围的相同波形从所述离子阱喷射所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗内的离子。
7.根据权利要求5所述的系统,其中所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗的宽度随着所述质量范围中的所述每一质量窗的质量增大而增大。
8.根据权利要求1所述的系统,其中所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的至少两个质量窗具有不同的宽度。
9.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理器进一步指示所述质谱仪在检测所述质谱从而产生所述质量范围的串联质谱分析质谱集合之前在碰撞室中使所述每一质量窗的所述所喷射离子碎片化。
10.一种用于质谱数据的连续窗口化获取的方法,其包括:
接收样本的质量范围及质量窗宽度参数,
在质谱仪的离子阱中收集来自所述样本的在所述质量范围内的多个离子,
使用所述质量窗宽度参数计算跨越所述质量范围的两个或两个以上邻近或重叠质量窗,及
从所述离子阱喷射所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗内的离子且使用所述质谱仪的质量分析器从所述每一质量窗的所述所喷射离子中检测质谱,从而产生所述质量范围的质谱集合。
11.根据权利要求10所述的方法,其中所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗具有相同的宽度。
12.根据权利要求11所述的方法,其中从所述离子阱喷射所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗内的离子包括针对所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗使用具有不同激励频率范围的不同波形。
13.根据权利要求12所述的方法,其进一步包括在所述质谱仪从所述离子阱喷射任何离子之前针对所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗计算具有不同激励频率范围的不同波形且在所述质谱仪上存储所述不同波形。
14.根据权利要求10所述的方法,其中所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗具有不同的宽度。
15.根据权利要求14所述的方法,其中从所述离子阱喷射所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗内的离子包括针对所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗使用具有相同激励频率范围的相同波形。
16.根据权利要求14所述的方法,其中所述两个或两个以上邻近或重叠质量窗中的每一质量窗的宽度随着所述质量范围中的所述每一质量窗的质量增大而增大。
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