[发明专利]用于测定中空装置的内轮廓的设备和方法

权利要求书

1.一种用于测定部件的内轮廓的设备，该设备包括：

壳体，该壳体具有第一轴线；

测量装置，该测量装置构造成沿着以距离“a”偏离所述第一轴线的第二轴线发射光束；

偏转装置，该偏转装置构造成将发射光束引导至所述部件的内表面；以及

驱动器，该驱动器构造成使所述测量装置围绕所述第一轴线旋转。

2.根据权利要求1所述的设备，所述设备还包括位于所述测量装置内的传感器，该传感器构造成将所述发射光束引导至所述偏转装置。

3.根据权利要求2所述的设备，其中所述传感器还构造成接收通过可旋转的偏转装置从所述部件的内表面反射的光束。

4.根据权利要求1所述的设备，所述设备还包括构造成控制所述偏转装置的旋转的控制器。

5.根据权利要求4所述的设备，其中所述控制器还构造成独立于所述偏转装置的旋转地控制所述测量装置的旋转。

6.根据权利要求1所述的设备，所述设备还包括使所述偏转装置围绕所述第一轴线上的一位置旋转的装置。

7.根据权利要求1所述的设备，所述设备还包括处理器，该处理器构造成处理从所述部件的内表面反射的光束，以提供以下之一：(i)所述部件的内表面的二维内轮廓；以及(ii)所述部件的内表面的三维内轮廓。

8.根据权利要求1所述的设备，其中所述发射光束和反射光束是同轴的。

9.根据权利要求1所述的设备，所述设备还包括夹紧装置，该夹紧装置构造成以所述驱动器能够使所述测量装置围绕所述第一轴线旋转的方式地将所述设备接合到所述部件的内表面。

10.一种用于测定具有中心轴线的被测装置的内表面的轮廓的方法，该方法包括：

从被测装置内的选定位置处由旋转偏转装置将光束引导至被测装置的内表面上，其中该选定位置偏离所述中心轴线；

接收响应于引导至所述被测装置的内表面的所述光束而从被测装置的内表面反射的光；以及

根据从所述被测装置的内表面接收的反射光，测定被测装置的内表面的轮廓。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述旋转偏转装置围绕光束轴线旋转。

12.根据权利要求11所述的方法，所述方法还包括使旋转偏转装置围绕所述中心轴线旋转。

13.根据权利要求10所述的方法，其中被引导至所述被测装置的内表面的所述光束和从被测装置的内表面反射的光束是同轴的。

14.根据权利要求12所述的方法，其中旋转偏转装置围绕所述光束轴线的旋转与围绕所述中心轴线的旋转被叠加。

15.根据权利要求10所述的方法，所述方法还包括：

(i)在所述被测装置内移动所述偏转装置；以及

(ii)处理从所述被测装置的内表面反射的光束，以提供所述被测装置的三维内轮廓。

16.根据权利要求10所述的方法，所述方法还包括：

(i)在沿两个方向旋转所述偏转装置的同时，在所述被测装置内移动所述偏转装置；以及

(ii)处理从所述被测装置的内表面反射的光束，以提供所述被测装置的三维内轮廓。

17.根据权利要求10所述的方法，所述方法还包括将所述偏转装置固定在所述被测装置内。

18.根据权利要求10所述的方法，其中引导光束包括通过放置在被测装置内的传感器引导光束，该传感器构造成在所述被测装置内围绕所述中心轴线旋转。