[发明专利]一种测试电绝缘子的第二密封的完整性的方法

权利要求书

1.一种测试电绝缘子的第二密封的完整性的方法，所述绝缘子包括：

绝缘主体(8)，包围第一容积(10)以用于容纳气体，所述主体设置有开口，以及

密封布置(1)，被布置为将所述开口密封在所述主体中，并且包括：

第一密封元件(3)，用于密封所述开口并且设置有第一可封闭开口(5)，以及

第二密封元件(2)，用于密封所述开口，并且被布置在所述第一密封元件(3)的内部，使得所述第一密封元件和所述第二密封元件限定第二容积(11)，所述第二容积(11)显著小于所述第一容积(10)，

其中，所述第二密封元件设置有第二可封闭开口(4)，所述第二可封闭开口(4)与所述第一可封闭开口(5)配合使得能够在所述第一容积(10)中对气体压力进行控制；

所述方法包括：

-利用包括可检测组分的气体填充所述绝缘子的所述第一容积(10)，

-封闭所述第二可封闭开口(4)，

-通过所述第一可封闭开口(5)抽空所述第二容积(11)，以及

-如果在从所述第二容积(11)抽空的气体中检测到可检测组分，确定所述第二密封元件(2)和所述主体(8)之间的第二密封(6)或所述第二可封闭开口(4)在泄漏。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述绝缘主体(8)设置有第二开口，所述第二开口具有被布置为将所述第二开口密封在所述主体中的第二密封布置(19)，并且所述第二密封布置(19)包括：

第三密封元件(13)，用于密封所述第二开口并且设置有第三可封闭开口(15)，以及

第四密封元件(12)，用于密封所述第二开口，并且被布置在所述第三密封元件(13)的内部，使得所述第三密封元件和所述第四密封元件限定第三容积(111)，所述第三容积(111)显著小于所述第一容积(10)；

所述方法也测试所述电绝缘子的第四密封的完整性，由此所述方法还包括：

-通过所述第三可封闭开口(15)抽空所述第三容积(111)，以及

-如果在从所述第三容积(111)抽空的气体中检测到可检测组分，确定所述第四密封元件(12)和所述主体(8)之间的所述第四密封(113)在泄漏。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述第四密封的完整性的测试与所述第二密封的完整性的测试并行进行。

4.根据权利要求1所述的方法，所述方法还测试所述电绝缘子的第一密封的完整性，因此所述方法还包括：

-将所述绝缘子置于包括可检测的组分(33)的气体中，其中所述第一可封闭开口(5)封闭，

-通过所述第一可封闭开口(5)抽空所述第二容积(11)，以及

-如果在从所述第二容积(11)抽空的气体中检测到可检测的组分，确定所述第一密封元件(3)和所述主体(8)之间的第一密封(7)或所述第一可封闭开口(5)在泄漏。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述绝缘主体(8)设置有第二开口，所述第二开口具有被布置为将所述第二开口密封在所述主体中的第二密封布置(19)，并且所述第二密封布置(19)包括：

第三密封元件(13)，用于密封所述第二开口并且设置有第三可封闭开口(15)，以及

第四密封元件(12)，用于密封所述第二开口，并且被布置在所述第三密封元件(13)的内部，使得所述第三密封元件和所述第四密封元件限定第三容积(111)，所述第三容积(111)显著小于所述第一容积(10)；

所述方法也测试所述电绝缘子的第三密封的完整性，由此所述方法还包括：

-将所述绝缘子置于包括所述可检测的组分(33)的气体中，所述第三可封闭开口(15)封闭，

-通过第三可封闭开口(15)抽空第三容积(111)，以及

-如果在从所述第三容积(111)抽空的气体中检测到可检测的组分，确定所述第一密封元件(3)和所述主体(8)之间的第三密封(112)或所述第三可封闭开口(15)在泄漏。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述第三密封的完整性的所述测试与所述第一密封的完整性的所述测试并行进行。

7.根据前述任一项权利要求所述的方法，其中所述第一密封元件(3)被布置在所述绝缘主体(8)的外部。