[发明专利]金属检测方法、金属检测装置、非接触供电装置的金属检测方法和非接触供电装置

权利要求书

1.一种用于对配置在金属检测区域中的金属检测线圈进行励磁以使用从所述金属检测线圈辐射的电磁波来检测所述金属检测区域中是否存在金属的方法，所述方法包括以下步骤：

利用具有单一基频的正弦波的振荡电流来对所述金属检测线圈进行励磁以从所述金属检测线圈辐射电磁波；以及

根据流至所述金属检测线圈的所述振荡电流中的所述基频的变化来检测所述金属检测区域中是否存在金属，

其中，检测所述金属检测区域中是否存在金属的步骤包括：

通过高通滤波器电路从所述振荡电流中滤波除基频成分以外的谐波成分以生成滤波信号；

将来自所述高通滤波器电路的所述滤波信号放大以生成检测信号；

将所述检测信号的信号电平与预先确定的基准值进行比较；

基于比较结果来判断在所述振荡电流中是否生成了相对于所述基频的谐波；以及

在所述振荡电流中生成相对于所述基频的谐波的情况下，检测出所述金属检测区域中存在金属。

2.一种金属检测装置，包括：

金属检测线圈，其配置在金属检测区域中，其中，对所述金属检测线圈进行励磁，并且使用从所述金属检测线圈辐射的电磁波来检测所述金属检测区域中是否存在金属；

振荡电路，用于生成具有单一基频的正弦波的振荡电流，并且将所述振荡电流供给至所述金属检测线圈以对所述金属检测线圈进行励磁；

谐波电平检测电路，用于检测所述振荡电流的相对于基频成分的谐波成分，并且生成检测信号；

比较电路，用于将所述检测信号的信号电平与预先确定的基准值进行比较；以及

处理电路，用于基于比较结果来判断所述金属检测区域中是否存在金属，并且在判断为所述金属检测区域中存在金属的情况下，驱动通知单元以发出表示检测到金属的通知，

其中，所述谐波电平检测电路包括：

高通滤波器电路，用于从所述振荡电流中滤波除基频成分以外的比所述基频高的频率成分，并且生成滤波信号，以及

放大电路，用于放大来自所述滤波器电路的滤波信号以生成所述检测信号。

3.根据权利要求2所述的金属检测装置，其中，所述通知单元包括指示灯。

4.一种使用非接触供电装置的金属检测方法，其中，所述非接触供电装置包括配置在供电区域中的初级线圈，在电子设备放置在所述供电区域中的情况下，所述非接触供电装置对配置在所述供电区域中的所述初级线圈进行励磁以在所述电子设备中所设置的受电装置的次级线圈中引起电磁感应从而向所述电子设备供电，以及所述非接触供电装置包括配置在所述供电区域中的金属检测线圈，所述金属检测方法包括以下步骤：

利用具有单一基频的正弦波的振荡电流来对所述金属检测线圈进行励磁以从所述金属检测线圈辐射电磁波；以及

根据流至所述金属检测线圈的所述振荡电流中的基频的变化来检测所述供电区域中是否存在金属，

其中，检测所述供电区域中是否存在金属的步骤包括：

通过高通滤波器电路从所述振荡电流中滤波除基频成分以外的谐波成分以生成滤波信号；

将来自所述高通滤波器电路的所述滤波信号放大以生成检测信号；

将所述检测信号的信号电平与预先确定的基准值进行比较；

基于比较结果来判断在所述振荡电流中是否生成了相对于所述基频的谐波；以及

在所述振荡电流中生成相对于所述基频的谐波的情况下，检测出所述供电区域中存在金属。