[发明专利]井下电磁工具的基于反演的校正

权利要求书

1.一种用于校正井下电磁测量工具的方法，所述方法包括：

(a)从第一测量阵列和第二测量阵列获取地下钻孔中的电磁测量数据；

(b)使处理器使用地层模型的反演对在(a)中从所述第一测量阵列获取的所述电磁测量数据进行处理，以获得地层参数和用于所述第一测量阵列的校正参数；

(c)固定用于所述第一测量阵列的所述地层模型中的所述校正参数；以及

(d)使所述处理器使用所述地层模型的反演对在(a)中从所述第一测量阵列和所述第二测量阵列获取的所述电磁测量数据以及在(c)中固定的用于所述第一测量阵列的所述校正参数进行处理，以获得地层参数和用于所述第二测量阵列的校正参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，在(a)中，在具有基本上同质的电磁性质的所述地下钻孔的区域中获取所述电磁测量数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，在(a)中获取的所述电磁测量数据包括深层探测电阻率数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，在(a)中获取的所述电磁测量数据还包括浅层探测电阻率数据。

5.根据权利要求3所述的方法，其中，在多个频率下收集所述深层探测电阻率数据，并且在(b)中获得用于所述多个频率中的每一个频率的至少一个校正参数。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述校正参数包括相对于谐波电阻率振幅的至少一个校正偏移量以及相对于谐波电阻率相位的至少一个校正偏移量。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，在多个频率下收集所述电磁测量数据，并且所述校正参数包括处于所述多个频率中的每一个频率下的相对于谐波电阻率振幅的校正偏移量以及处于所述多个频率中的每一个频率下的相对于谐波电阻率相位的校正偏移量。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，在(b)和(d)中获得的所述地层参数包括附近地层电阻率、到一个或多个边界层的距离、一个或多个层的垂直电阻率和水平电阻率、各向异性比、以及一个或多个边界层的倾角的至少其中之一。

9.根据权利要求1所述的方法，还包括：

(e)固定用于所述第二测量阵列的所述地层模型中的所述校正参数；以及

(f)使所述处理器使用所述地层模型的反演对在(a)中从所述第一测量阵列和所述第二测量阵列获取的所述电磁测量数据以及在(c)和(e)中固定的所述校正参数进行处理，以获得所述地层参数。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，(a)还包括从第一测量阵列、第二测量阵列、以及第三测量阵列获取地下钻孔中的电磁测量数据，并且所述方法还包括：

(e)固定用于所述第二测量阵列的所述地层模型中的所述校正参数；以及

(f)使所述处理器使用所述地层模型的反演对在(a)中从所述第一测量阵列、所述第二测量阵列、以及所述第三测量阵列获取的所述电磁测量数据和在(c)和(e)中固定的所述校正参数进行处理，以获得地层参数和用于所述第三测量阵列的校正参数。

11.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一测量阵列包括具有第一轴向间隔的至少一个发射器-接收器天线对，并且其中所述第二测量阵列包括具有第二轴向间隔的至少一个发射器-接收器天线对，其中所述第一轴向间隔比所述第二轴向间隔短。