[发明专利]用于检测颗粒的改进的设备有效

专利信息
申请号: 201380015374.4 申请日: 2013-03-15
公开(公告)号: CN104246475A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 约翰·H·布坎南;村上久弥 申请(专利权)人: 阿自倍尔株式会社
主分类号: G01N21/15 分类号: G01N21/15
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 肖华
地址: 日本东京都千代田*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 颗粒 改进 设备
【权利要求书】:

1.一种用于检测环境气体中的颗粒的颗粒检测系统,其特征在于,所述颗粒检测系统包含:

感应室,所述感应室包含被流通地耦接至所述环境气体的入口流喷嘴、以及出口流喷嘴,其中,所述入口流喷嘴和所述出口流喷嘴限定询问区;以及

位于所述感应室中远离所述询问区的额外流端口,所述额外流端口被流通地耦接在所述感应室和额外气体源之间。

2.如权利要求1所述的颗粒检测系统,其特征在于,进一步包含负压源,所述负压源被流通地耦接至所述出口流喷嘴,并能够以限定的样本流速将环境气体吸引穿过所述询问区。

3.如权利要求2所述的颗粒检测系统,其特征在于,所述额外流端口经由出射喷嘴被流通地耦接至所述负压源,以使所述负压源能够以限定的额外气体流速吸引额外气体。

4.如权利要求3所述的颗粒检测系统,其特征在于,当所述负压源在操作中时,所述额外气体流速与所述额外气体流速和所述样本流速的总合的比值超过0.21。

5.如权利要求3所述的颗粒检测系统,其特征在于,当所述负压源在操作中时,所述额外气体流速等于所述样本流速。

6.如权利要求3所述的颗粒检测系统,其特征在于,当所述负压源在操作中时,所述感应室中的压力超过所述出口流喷嘴处的压力。

7.如权利要求1所述的颗粒检测系统,其特征在于,所述额外流端口被流通地耦接至旁路流路,所述旁路流路连接所述入口流喷嘴和所述感应室。

8.如权利要求7所述的颗粒检测系统,其特征在于,所述旁路流路包含可调节孔和颗粒过滤器。

9.如权利要求1所述的颗粒检测系统,其特征在于,所述额外流端口被流通地耦接至被过滤的环境气体源。

10.如权利要求1所述的颗粒检测系统,其特征在于,进一步包含位于所述感应室中远离所述询问区的第二额外流端口,所述第二额外流端口被流通地耦接在所述感应室和额外气体源之间,并且被流通地耦接至所述第一额外流端口。

11.一种检测环境气体中的颗粒的方法,其特征在于,所述方法包含:

将要被采样的环境气体吸引到感应室中;

测量所述要被采样的环境气体,以便检测其中的颗粒;

经由出口喷嘴将环境气体从所述感应室排除,以及

对所述感应室进行加压,以使所述感应室的压力高于在所述出口喷嘴处的压力。

12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,对所述感应室进行加压,以使所述感应室的压力高于在所述出口喷嘴处的压力包含,将额外气体吸引到所述感应室中。

13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,测量要被采样的所述环境气体,以检测所述环境气体中的颗粒发生在询问区中,并且其中,将额外气体吸引到所述感应室中包含在所述要被采样的所述环境气体的一部分被引入到询问区之前使所述要被采样的所述环境气体的所述一部分转向,以及在所述感应室中远离所述询问区的位置处引入所述额外气体。

14.如权利要求12所述的方法,其特征在于,将额外气体吸引到所述感应室中包含将被过滤的环境气体供应到所述感应室。

15.如权利要求12所述的方法,其特征在于,将额外气体吸引到所述感应室中包含设置额外气体流路。

16.如权利要求15所述的方法,其特征在于,所述额外气体流路将所述感应室与入口喷嘴连接,在所述入口喷嘴处,要被采样的环境气体被引入到所述感应室。

17.如权利要求12所述的方法,其特征在于,所述额外气体在被引入到所述感应室之前,被过滤并被流量调节。

18.如权利要求12所述的方法,其特征在于,要被采样的环境气体以第一预定速率被吸引到所述感应室中,并且额外气体以第二预定速率被吸引到所述感应室中。

19.如权利要求18所述的方法,其特征在于,所述第一预定速率与所述第一预定速率和所述第二预定速率的总合的比值超过0.21。

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