[发明专利]物质特性测定装置有效
申请号: | 201380017444.X | 申请日: | 2013-03-28 |
公开(公告)号: | CN104246477B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 市泽康史;堀越久美子;节田和纪;千田直道 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G01N21/3559 | 分类号: | G01N21/3559 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 何立波,张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 物质 特性 测定 装置 | ||
1.一种物质特性测定装置,其特征在于,具备:
光源照射部,其将n个不同波长的光向被测定物质照射;
检测部,其对向所述被测定物质照射后的各个波长的光的强度进行检测;以及
运算处理部,其利用由行以及列分别小于或等于n阶的矩阵表示的校正系数,对检测出的各个波长中的至少一部分波长的光的强度进行校正,并基于校正后的各个波长的光的相对强度,计算表示所述被测定物质的特性的指标值。
2.一种物质特性测定装置,其特征在于,具备:
光源照射部,其将n个不同波长的光向被测定物质照射;
检测部,其对向所述被测定物质照射后的各个波长的光的强度进行检测;以及
运算处理部,其利用由n阶方阵表示的校正系数,对检测出的各个波长的光的强度进行校正,并基于校正后的各个波长的光的相对强度,计算表示所述被测定物质的特性的指标值。
3.根据权利要求2所述的物质特性测定装置,其特征在于,
所述运算处理部,如果计算出所述指标值,则参考将所述指标值与所述特性值关联而成的检量线,将所述指标值变换为特性值,
所述校正系数被确定为,使得针对多种类型的被测定物质的检量线的一致程度满足规定基准。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的物质特性测定装置,其特征在于,
所述光源照射部具备发出各个波长的光的n个LED(Light Emitting Diode)。
5.根据权利要求4所述的物质特性测定装置,其特征在于,
所述光源照射部以分别不同的频率对所述n个LED进行调制而进行驱动,
所述检测部具备鉴频器,该鉴频器从频率调制后的信号中检测特定频率的信号。
6.根据权利要求4或5所述的物质特性测定装置,其特征在于,
所述光源照射部,使所述n个LED的光反射和漫射而同时向被测定物质照射。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的物质特性测定装置,其特征在于,
所述被测定物质是纸张,
所述特性是含水率,
所述n个不同波长的光为大于或等于3个波长,其包含被水吸收的波长的光、被纤维素吸收的波长的光、以及难于被水以及纤维素中的任一个吸收的波长的光。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于横河电机株式会社,未经横河电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380017444.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:质量分析装置
- 下一篇:用于检测颗粒的改进的设备