[发明专利]目视检查光纤

说明书

一种用于光纤(150)的目视检查系统(100,200)包括至少一个图案源(120,220A,220B,220C,520)；将光朝光纤(150)引导的至少一个第一照明源(130,230A,230B,230C,510,522)；和定位在光纤(150)的与图案源(120,220A,220B,220C,520)相对侧处的至少一个第一相机(140,240A,240B,240C,40)。光纤(150)的至少一个图像(170,180,190)被采集到，且可分析经由光纤(150)在图像(170,180,190)中可见的图案来检测图案中的变形。

背景技术

在制造过程期间，光纤可受到污染和/或破坏。例如，光纤可在切割过程期间碎裂、开裂或碎开。其它过程，诸如剥离、清洁等，可使颗粒或流体污染物留在纤维上。此种破坏和/或污染可降低在光纤上传送的光学信号的信号质量。破坏和/或污染还可在光纤端接于光学连接器处时或在光纤与其它光纤匹配/分开时引起问题。

发明内容

本公开的方面涉及一种用于目视检查光纤的方法，包括定位光纤，以便图案源产生图案，该图案当经由光纤的环形侧看时经由光纤可见；定位成像传感器，以便光纤设置在成像传感器与图案源之间；使用成像传感器获得光纤的环形表面的至少一部分的至少一个图像；和分析经由光纤的环形表面在图像中至少部分地可见的图案，以检测图案中的变形。

本公开的方面涉及一种目视检查系统，通过其来检查光纤的污染或破坏，该目视检查系统包括固连布置，其构造成固持光纤；至少一个第一图案源，其产生图案；和至少一个第一成像传感器，其定位在光纤的与第一图案源相对侧处。第一图案源定位成以便图案面对光纤。第一成像传感器构造成获得保持在第一图案源前方的任何光纤的至少一个图像。

本公开的方面涉及一种用于目视检查光纤的方法，包括使轴向照明源沿光纤的纵轴线发光；定位传感器，以便传感器检测从光纤沿径向向外被引导的光；在照明源在光纤上发光时获得来自传感器的反馈；和分析该反馈来检测光纤上的污染。

本公开的方面涉及一种目视检查系统，通过其来检查光纤的污染或破坏。目视检查系统包括轴向照明源，其沿光纤的纵轴线定位；和至少一个第一传感器，其定位成以便从光纤的环形侧接收光来检测光纤上的污染。

本公开的方面涉及一种用于使用光学整体(monoblock)反射镜来目视检查光纤的方法。该方法包括将光纤设置在部分地延伸穿过光学整体反射镜的轴向通路内；使照明源朝光纤发光；相对于光学整体反射镜定位传感器，以便光学整体反射镜将光从纤维朝传感器引导；在照明源在光纤上发光时获得来自传感器的反馈；和分析该反馈来检测污染或破坏。光学通路从光学整体反射镜的开口端延伸至圆锥区段。

本公开的方面涉及一种目视检查系统，通过其来检查光纤的污染或破坏。目视检查系统包括整体反射镜，其限定从整体反射镜的第一端向内延伸的轴向通路。轴向通路构造成收纳光纤的至少一部分。目视检查系统还包括照明源，该照明源定位成在定位于轴向通路中的任何光纤上发光；和传感器，该传感器定位成以便整体反射镜的至少一部分位于传感器与光纤之间。传感器构造成从整体反射镜接收从光纤的环形表面被引导的光。

多种附加方面将在随后的描述中阐明。这些方面可涉及独立的特征和特征的组合。将理解的是，前文的总体描述和以下的详细描述两者仅为示范性且说明性的，且不限制本文公开的实施例所基于的宽泛构想。

附图说明

图1为用于光纤的示例性目视检查系统的示意图，该系统具有屏幕、相机和两个照明源；

图2示出了适用于本文公开的任何屏幕的一个示例性图案表面；

图3为第一示例性图像，其示出了具有碎片的沿径向照明的光纤，其为将使用本文公开的任一目视检查系统获得的类型；

图4为第一示例性图像，其示出了覆盖在液体污染物中的沿径向照明的光纤，其为将使用本文公开的任一目视检查系统获得的类型；