[发明专利]温度测定方法及温度测定装置

权利要求书

1.一种温度测定方法，对从测定对象物发出的放射能量进行分光测定，对所得到的分光光谱信息进行信号处理，从而对测定对象物的表面温度进行测定，所述温度测定方法的特征在于，

基于从所述测定对象物得到的分光光谱信息而算出预先取得的基础光谱的得分，按照预先取得的检量式而使用所述得分来进行所述表面温度的测定，

根据使用接触式温度计对测定对象物进行了测定的温度测定值，来决定所述基础光谱及所述检量式。

2.根据权利要求1所述的温度测定方法，其特征在于，

根据测定对象物的分光光谱信息和测定与所述接触式温度计的温度测定值相同温度的黑体炉而得到的放射能量的分光光谱信息之比，来算出放射率，对基于该放射率的放射率变动进行主成分分析而得到主成分，将与该主成分正交的光谱决定作为所述基础光谱。

3.根据权利要求2所述的温度测定方法，其特征在于，

预先算出对关于多个温度进行了测定的黑体炉的放射能量的分光光谱信息进行了主成分分析而得到的一个以上的主成分的得分与所述黑体炉的温度之间的关系式，

根据测定对象物的分光光谱信息与使用利用所述关系式确定的所述接触式温度计的温度测定值所对应的得分而再构成的分光光谱信息之比，来算出放射率，对基于该放射率的放射率变动进行主成分分析而得到主成分，将与该主成分正交的光谱决定作为所述基础光谱。

4.根据权利要求1所述的温度测定方法，其特征在于，

对于测定对象物的分光光谱信息和所述接触式温度计的温度测定值适用局部的最小二乘法，由此来决定所述基础光谱。

5.一种温度测定装置，对从测定对象物发出的放射能量进行分光测定，对所得到的分光光谱信息进行信号处理，从而对测定对象物的表面温度进行测定，所述温度测定装置的特征在于，

基于从所述测定对象物得到的分光光谱信息而算出预先取得的基础光谱的得分，按照预先取得的检量式，使用所述得分来进行所述表面温度的测定，

所述基础光谱及所述检量式根据使用接触式温度计对测定对象物进行了测定的温度测定值来决定。

6.根据权利要求5所述的温度测定装置，其特征在于，

根据测定对象物的分光光谱信息和测定与所述接触式温度计的温度测定值相同温度的黑体炉而得到的放射能量的分光光谱信息之比，来算出放射率，对基于该放射率的放射率变动进行主成分分析而得到主成分，与该主成分正交的光谱被决定作为所述基础光谱。

7.根据权利要求6所述的温度测定装置，其特征在于，

预先算出对关于多个温度进行了测定的黑体炉的放射能量的分光光谱信息进行了主成分分析而得到的一个以上的主成分的得分与所述黑体炉的温度之间的关系式，

根据测定对象物的分光光谱信息与使用利用所述关系式确定的所述接触式温度计的温度测定值所对应的得分再构成的分光光谱信息之比，来算出放射率，对基于该放射率的放射率变动进行主成分分析而得到主成分，与该主成分正交的光谱被决定作为所述基础光谱。

8.根据权利要求5所述的温度测定装置，其特征在于，

对于测定对象物的分光光谱信息和所述接触式温度计的温度测定值适用局部的最小二乘法，由此决定所述基础光谱。