[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201380018759.6 申请日: 2013-03-29
公开(公告)号: CN104246510A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 中泽隆史;铃木庆弘;有贺洋一 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;李家浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 自动 分析 装置
【权利要求书】:

1.一种自动分析装置,具备:

试样盘,其载置收纳了被分析试样、标准液、精度管理试样的试样容器;

第一试剂盘,其载置收纳了用于反应的试剂的试剂容器;

反应盘,其载置反应容器,该反应容器使得从载置在上述试剂盘中的试剂容器分注后的试样和从载置在上述第一试剂盘中的试剂容器分注后的试剂进行反应;

光度计,其检测透过上述反应容器的光;

第二试剂盘,其载置收纳了用于反应的试剂的试剂容器,并且与上述第一试剂盘分开设置;以及

试剂容器输送机构,其在上述第一试剂盘和上述第二试剂盘之间输送试剂容器,

上述自动分析装置使用被输送到上述第一试剂盘的试剂容器所保持的试剂和上述标准液来实施校准,

上述自动分析装置使用被输送到上述第一试剂盘的试剂容器所保持的试剂和上述精度管理试样来实施精度管理测量,

上述自动分析装置的特征在于,

通过上述试剂容器输送机构将设置在上述第二试剂盘中的试剂容器开拴后,输送到上述第一试剂盘,

具备运算控制部,其使用被输送到上述第一试剂盘的试剂容器所保持的试剂,至少执行上述校准和上述精度管理测量中的上述精度管理测量后,使用上述试剂容器输送机构,使上述试剂容器返回上述第二试剂盘中。

2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,

当上述判定部判定设置在上述第一试剂盘中的试剂容器所保持的试剂的余量为0时,

上述运算控制部使用上述试剂容器输送机构,将设置在上述第二试剂盘中的、上述精度管理测量已经结束且保持与余量为0的试剂相同种类的试剂的试剂容器从上述第二试剂盘输送到上述第一试剂盘。

3.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

上述运算控制部具备:

判定部,其判定上述第一试剂盘的试剂设置位置是否占满;和

驱动控制部,其在该判定部判定为占满后,控制上述试剂容器输送机构,控制收纳了未在测量委托内的分析项目所使用的试剂的试剂容器暂时返回到上述第二试剂盘。

4.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,

当上述判定部通过过去的履历判定为使用频率少的试剂容器后,上述驱动控制部控制上述试剂容器输送机构,使收纳了未在测量委托内的分析项目所使用的试剂的试剂容器暂时返回到上述第二试剂盘。

5.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,

当上述判定部判定为上述第一试剂盘的试剂容器设置位置有空闲时,上述判定部根据之前的使用实绩进行统计处理,判定对于每个分析项目剩余几个测试数以上,返回到上述第二试剂盘,根据该判定,上述驱动控制部控制上述试剂容器输送机构,使收纳了未在测量委托内的分析项目所使用的试剂的试剂容器暂时返回到上述第二试剂盘。

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