[发明专利]光学断层图像获取装置

权利要求书

1.一种光学断层图像获取装置，包括：

光源，其输出光；

分路部件，其将自所述光源输出的光分为基准光和测量光这两个光束；

基准光学系统，其包括第一光纤、第一聚光透镜和基准反射镜，并且构造为：从所述分路部件输出的所述基准光受到引导而传播通过所述第一光纤，从而经由所述第一聚光透镜入射在所述基准反射镜上，以及在所述基准光入射时由所述基准反射镜产生的反射光受到引导从而经由所述第一聚光透镜传播通过所述第一光纤；

测量光学系统，其包括第二光纤和第二聚光透镜，并且构造为：从所述分路部件输出的所述测量光受到引导而传播通过所述第二光纤，从而经由所述第二聚光透镜施加在测量物上进行照射，以及在用所述测量光进行照射时由所述测量物产生的反射光受到引导而作为物体光经由所述第二聚光透镜传播通过所述第二光纤；

检测器，其接收由从所述基准光学系统输出的所述反射光与从所述测量光学系统输出的所述物体光之间的干涉得到的干涉光，并且利用包括设置为阵列的多个光接收元件的光谱仪检测所述干涉光的光谱；以及

分析单元，其基于所述检测器所检测的结果获取所述测量物的光学断层图像，

其中，假定δk是所述光谱仪的所述多个光接收元件中的相邻两个光接收元件所接收的光的波数的间隔的最大值，光程L0ref是从所述分路部件通过前往且返自所述基准反射镜的路径而到达所述检测器的光程，以及光程L0obj是从所述分路部件通过前往且返自所述测量物的路径而到达所述检测器的光程，它们满足以下表达式：

|L0obj-L0ref|<π/δk

并且，

光程L1ref是从所述分路部件通过前往且返自所述第一聚光透镜的路径而到达所述检测器的光程，以及光程L1obj是从所述分路部件通过前往且返自所述第二聚光透镜的路径而到达所述检测器的光程，满足以下表达式：

|L1obj-L1ref|>π/δk。

2.一种光学断层图像获取装置，包括：

波长可变的光源，其输出光；

分路部件，其将自所述光源输出的光分为基准光和测量光这两个光束；

基准光学系统，其包括第一光纤、第一聚光透镜和基准反射镜，并且构造为：从所述分路部件输出的所述基准光受到引导而传播通过所述第一光纤，从而经由所述第一聚光透镜入射在所述基准反射镜上，以及在所述基准光入射时由所述基准反射镜产生的反射光受到引导而经由所述第一聚光透镜传播通过所述第一光纤；

测量光学系统，其包括第二光纤和第二聚光透镜，并且构造为：从所述分路部件输出的所述测量光受到引导而传播通过所述第二光纤，从而经由所述第二聚光透镜施加在测量物上进行照射，以及在用所述测量光进行照射时由所述测量物产生的反射光受到引导而作为物体光经由所述第二聚光透镜传播通过所述第二光纤；

检测器，其接收由从所述基准光学系统输出的所述反射光与从所述测量光学系统输出的所述物体光之间的干涉得到的干涉光，并且检测处于从所述波长可变的光源输出的光的各波长下的所述干涉光的强度；以及

分析单元，其基于所述检测器所检测的结果获取所述测量物的光学断层图像，

其中，假定δk是当所述检测器检测所述干涉光的强度时光的波数的间隔的最大值，光程L0ref是从所述分路部件通过前往且返自所述基准反射镜的路径而到达所述检测器的光程，以及光程L0obj是从所述分路部件通过前往且返自所述测量物的路径而到达所述检测器的光程，它们满足以下表达式：

|L0obj-L0ref|<π/δk

并且，

光程L1ref是从所述分路部件通过前往且返自所述第一聚光透镜的路径而到达所述检测器的光程，以及光程L1obj是从所述分路部件通过前往且返自所述第二聚光透镜的路径而到达所述检测器的光程，它们满足以下表达式：

|L1obj-L1ref|>π/δk。

3.根据权利要求1或2所述的光学断层图像获取装置，其中，所述基准光学系统包括设置在所述第一光纤的中途的第一光学元件，

所述测量光学系统包括设置在所述第二光纤的中途的第二光学元件，并且

光程L2ref是从所述分路部件通过前往且返自所述第一光学元件的路径而到达所述检测器的光程，以及光程L2obj是从所述分路部件通过前往且返自所述第二光学元件的路径而到达所述检测器的光程，它们满足以下表达式：

|L2obj-L2ref|>π/δk。

4.根据权利要求1或2所述的光学断层图像获取装置，其中，所述基准光学系统包括第一循环器和第一光学元件，所述第一循环器设置在所述第一光纤的中途并且朝所述检测器分出由反射镜产生的所述反射光，所述第一光学元件设置在所述第一循环器与所述第一聚光透镜之间，

所述测量光学系统包括第二循环器和第二光学元件，所述第二循环器设置在所述第二光纤的中途并且朝所述检测器分出由所述测量物产生的所述物体光，所述第二光学元件设置在所述第二循环器与所述第二聚光透镜之间，并且

光程L3ref是从所述分路部件通过前往且返自所述第一光学元件的路径而到达所述检测器的光程，以及光程L3obj是从所述分路部件通过前往且返自所述第二光学元件的路径而到达所述检测器的光程，它们满足以下表达式：

|L3obj-L3ref|>π/δk。