[发明专利]颗粒吸附探头无效
| 申请号： | 201380020552.2 | 申请日： | 2013-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN104271320A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 前野洋平 | 申请（专利权）人： | 日东电工株式会社 |
| 主分类号： | B25J7/00 | 分类号： | B25J7/00;B25J15/06;B82Y35/00;G01N1/02;G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 颗粒 吸附 探头 | ||
【权利要求书】：
1.一种颗粒吸附探头，其特征在于：
具有具备多个碳纳米管的碳纳米管集合体。
2.如权利要求1所述的颗粒吸附探头，其特征在于：
在轴状基材上设有所述碳纳米管集合体。
3.如权利要求1或2所述的颗粒吸附探头，其特征在于：
所述碳纳米管具有多层，该碳纳米管的层数分布的分布幅度为10层以上，该层数分布的最频值的相对频率为25％以下。
4.如权利要求1或2所述的颗粒吸附探头，其特征在于：
所述碳纳米管具有多层，该碳纳米管的层数分布的最频值存在于层数10层以下，该最频值的相对频率为30％以上。
5.如权利要求1～4中任一项所述的颗粒吸附探头，其特征在于：
选择性地吸附直径为200μm以下的颗粒。
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