[发明专利]用于校准在储藏层建模中使用的渗透性的系统和方法在审

专利信息
申请号: 201380020756.6 申请日: 2013-04-18
公开(公告)号: CN104272140A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: J·索尔内 申请(专利权)人: 雪佛龙美国公司
主分类号: G01V99/00 分类号: G01V99/00;E21B49/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李晓芳
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 校准 储藏 建模 使用 渗透性 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于校准岩层的渗透性的计算机实施的方法,所述方法包括:

将在一个或多个井中的多个对应的区带上的测量的渗透性K与流动区带厚度H的测量的乘积KH输入到计算机中;

将从所述一个或多个井中获得的对于多个对应区带的每一个中的每个测量的乘积KH的孔隙度测井记录输入到计算机中;

由计算机读取孔隙度-渗透性数据点的云;

对于每个区带,由计算机利用孔隙度-渗透性数据点的云从孔隙度测井记录计算预测的乘积KH;以及

由计算机确定与每个区带对应的预测的KH与测量的KH之间的一个或多个加权系数;以及

利用所述一个或多个加权系数校准与每个区带对应的测量的渗透性。

2.根据权利要求1所述的方法,还包括确定测量的乘积KH的准确度的相对分数范围以及测量的乘积KH的下限和上限。

3.根据权利要求1所述的方法,还包括输入表示感兴趣的地质区的岩层的一个或多个岩相的指数测井记录。

4.根据权利要求3所述的方法,其中所述计算包括对于每个区带并且对于所述一个或多个岩相,利用孔隙度-渗透性数据点的云从孔隙度测井记录计算预测的乘积KH。

5.根据权利要求3所述的方法,其中所述计算包括对于区带中的任何深度,利用对数孔隙度P确定平均渗透性,以使得孔隙度P在孔隙度P的累积概率公差之内。

6.一种用于校准岩层的渗透性的系统,包括:

计算机可读的存储器,被配置为存储输入数据,所述输入数据包括在一个或多个井中的多个对应的区带上的测量的渗透性K与流动区带厚度H的测量的乘积KH,以及从所述一个或多个井中获得的对于多个区带的每一个中的每个测量的乘积KH的孔隙度测井记录;以及

与计算机可读的存储器通信的计算机处理器,所述计算机处理器被配置为:

读取孔隙度-渗透性数据点的云;

对于每个区带,利用孔隙度-渗透性数据点的云从孔隙度测井记录计算预测的乘积KH;

确定与每个区带对应的预测的KH与测量的KH之间的加权系数;以及

利用所述一个或多个加权系数校准与每个区带对应的测量的渗透性。

7.根据权利要求6所述的系统,其中所述处理器被配置为确定测量的乘积KH的准确度的相对分数范围以及测量的乘积KH的下限和上限。

8.根据权利要求6所述的系统,其中所述存储器被配置为存储表示感兴趣的地质区的岩层的一个或多个岩相的输入指数测井记录。

9.根据权利要求8所述的系统,其中所述处理器被配置为对于每个区带并且对于所述一个或多个岩相,利用孔隙度-渗透性数据点的云从孔隙度测井记录计算预测的乘积KH。

10.根据权利要求8所述的系统,其中所述处理器被配置为对于区带中的任何深度,利用对数孔隙度P确定平均渗透性,以使得孔隙度P在孔隙度P的累积概率公差之内。

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