[发明专利]光学装置以及检测装置无效
申请号: | 201380022692.3 | 申请日: | 2013-04-23 |
公开(公告)号: | CN104272090A | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 坂上裕介;山田耕平;山田明子 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 装置 以及 检测 | ||
1.一种光学装置,其特征在于,
当激发光射入所述光学装置时,所述光学装置射出检测和/或鉴定被测定样品的光,
所述光学装置具有:
多个金属纳米结构,形成在电介质上;
第一有机分子膜,形成在所述多个金属纳米结构中相邻的两个金属纳米结构之间的所述电介质上;以及
第二有机分子膜,形成在所述多个金属纳米结构上,且与所述第一有机分子膜不同,
所述第一有机分子膜以及所述第二有机分子膜附着所述被测定样品。
2.根据权利要求1所述的光学装置,其特征在于,
所述第一有机分子膜具有硅烷偶联剂、硅醇基(-Si-OH)、钛偶联剂、或者钛醇基(-Ti-OH)。
3.根据权利要求1或2所述的光学装置,其特征在于,
所述第二有机分子膜具有巯基(-SH)、二硫基(-S-S-)、或者羧基(-COOH)。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的光学装置,其特征在于,
所述第一有机分子膜的分子长度比所述第二有机分子膜的分子长度短。
5.一种检测装置,其特征在于,具有:
光源;
权利要求1至4中任一项所述的光学装置,来自所述光源的光射入所述光学装置;以及
光检测器,检测从所述光学装置射出的光。
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