[发明专利]为存储器的块调整编程步长的系统和方法

说明书

技术领域

本公开总体上涉及为存储器的块调整编程步长(programming step size)。

背景技术

诸如通用串行总线(USB)闪存器件或可拆卸存储卡这样的非易失性存储器器件已经考虑到数据和软件应用的增大的便携性。闪存器件能够通过在每个闪存单元中存储多个比特来提高数据存储密度和成本效率。

在单个闪存单元中存储信息的多个比特通常包括将多个比特的序列映射到闪存单元的状态。在确定多个比特的序列将要被存储在特定闪存单元中之后，闪存单元可被编程至与多个比特的序列相对应的状态。使用小的编程步长来对闪存单元进行编程可增大编程精度，但是会增大编程步骤的数量，由此增大编程等待时间(latency)。使用大的编程步长来对闪存单元进行编程可减少编程步骤的数量，由此减少编程等待时间，但是会降低编程精度。在存储器器件中的存储器单元已被编程时，可通过感测存储器单元的编程状态来从存储器单元中读取数据。

发明内容

至少部分地基于确定出与块相对应的错误计数满足阈值来为数据存储器件中的存储器的块减少编程步长。因此，通过使用减少的编程步长可以实现被写入至所述块的存储元件中的阈值电压的更紧凑的分布，以便能够以减少错误的方式将数据编程至所述块中。通常，“年轻”的存储器会比“年老”的存储器经历更少的错误。因此，年轻的存储器的块可使用大的编程步长而被编程。

使用大的编程步长来对所述块进行编程可减少编程步骤的数量，由此减少编程等待时间。通常，随着存储器的老化，与从所述块中的存储元件中读取的数据相关联的错误的数量通常增大。响应于随着存储器的老化而错误计数达到阈值，使用减少的编程步长来对所述块进行编程可提高精度、减少错误并且延长存储器的寿命。

附图说明

图1是系统的第一示例性实施例的框图，所述系统用于至少部分地基于与块相对应的错误计数来为存储器器件的块将编程步长从第一值减少至第二值。

图2是总体示图，示出一组存储元件的可以从图1的存储器的块中读取的代表性的电压特征并且示出通过改变编程步长而对比特错误的校正。

图3是系统的第二示例性实施例的框图，所述系统用于至少部分地基于与块相对应的错误计数来为存储器器件的块将编程步长从第一值减少至第二值。

图4是示出至少部分地基于与块相对应的错误计数来为存储器器件的块将编程步长从第一值减少至第二值的方法的特定实施例的流程图。

具体实施方式

公开了为数据存储器件中的存储器的块将编程步长从第一值减少至第二值的系统和方法。编程步长至少部分地响应于确定与块相对应的错误计数已经达到阈值而减少。减少编程步长可以通过生成被写入块的存储元件(element)中的阈值电压的更紧凑的分布(例如，随着存储器老化)来使能够以减少错误的方式将数据编程至块中。

参照图1，系统的特定示例性实施例被描绘并总体上标明为100，被配置为至少部分地基于与块相对应的错误计数来将对存储器器件的块的编程步长从第一值减少至第二值。编程步长还可基于已经在块上进行的存储器读取的次数、块的写/擦循环的次数、或它们的组合。系统100包括与主机130耦接的数据存储器件102。数据存储器件102包括经由总线150与控制器106耦接的存储器104。

主机130可被配置来提供所要被存储于存储器104的数据或者可被配置来请求所要从存储器104读取的数据。例如，主机130可包括移动电话、音乐或视频播放器、游戏控制台(console)、电子书阅读器、个人数字助理(PDA)、诸如便携式计算机、笔记本计算机或平板计算机这样的计算机、任何其它电子器件、或它们的任何组合。

数据存储器件102可以是存储器卡，例如Secure Digital卡、卡、miniSD.TM卡(特拉华州威尔明顿市的SD-3C有限责任公司的商标)、MultiMediaCard.TM(MMC.TM)卡(弗吉尼亚州阿灵顿市的JEDEC固态科技联盟的商标)、或(CF)卡(加利福尼亚州米尔皮塔斯市的SanDisk公司的商标)。作为另一实例，数据存储器件102可以是主机130中的内嵌存储器，例如(弗吉尼亚州阿灵顿市的JEDEC固态科技联盟的商标)和eSD存储器作为示例性实例。