[发明专利]高动态范围检测器校正算法

权利要求书

1.一种用于针对质谱仪的非可瘫痪检测系统执行空载时间校正的系统，所述非可瘫痪检测系统在高计数率下展现为非瘫痪电子器件的特性的结果的空载时间扩展，所述系统包括：

质谱仪的非可瘫痪检测系统，其包含离子检测器、比较器/鉴别器、单稳态电路及计数器，其中所述单稳态电路需要来自所述比较器/鉴别器的脉冲的上升沿来触发且仅可在所述脉冲已变低之后再次被触发，从而允许恰好在由第一比较器/鉴别器脉冲开始的空载时间的结束之前到达的第二比较器/鉴别器脉冲将所述空载时间扩展到所述第二比较器/鉴别器脉冲的后沿；以及

处理器，其与所述计数器进行数据通信，所述处理器

从所述计数器接收所观测离子计数，

根据所述所观测离子计数计算所观测离子计数率，以及

使用另外包含调整因子函数的用于非可瘫痪检测系统的真实离子计数率的方程式来执行所述所观测离子计数率的空载时间校正，所述调整因子函数考虑到所述空载时间的所述扩展。

2.根据前述系统权利要求的任一组合所述的系统，其中所述调整因子函数为所述所观测离子计数率的非线性函数。

3.根据前述系统权利要求的任一组合所述的系统，其中所述调整因子函数(adj_fac)包括

adj_fac＝y_o+ae^{b(observed_count_rate)}

其中y_o、a及b为系数。

4.根据前述系统权利要求的任一组合所述的系统，其中所述系数y_o、a及b是通过将所述调整因子函数与调整因子对校准样本的所观测计数率的曲线图拟合而确定的。

5.根据前述系统权利要求的任一组合所述的系统，其中另外包含调整因子函数(adj_fac)的用于非可瘫痪检测系统的真实离子计数率(true_count_rate)的方程式包括

true_count_rate=observed_count_rate(1-observed_count_rate×dead_time×adj_fac).]]>

6.根据前述系统权利要求的任一组合所述的系统，其中所述调整因子函数取决于所述质谱仪。

7.根据前述系统权利要求的任一组合所述的系统，其中所述调整因子函数取决于所述离子检测器的偏置电位及所述鉴别器的阈值电平。

8.根据前述系统权利要求的任一组合所述的系统，其中所述质谱仪包含一或多个四极。

9.一种用于针对质谱仪的非可瘫痪检测系统执行空载时间校正的方法，所述非可瘫痪检测系统在高计数率下展现为非瘫痪电子器件的特性的结果的空载时间扩展，所述方法包括：

使用质谱仪的非可瘫痪检测系统来获得所观测离子计数，所述非可瘫痪检测系统包含离子检测器、比较器/鉴别器、单稳态电路及计数器，其中所述单稳态电路需要来自所述比较器/鉴别器的脉冲的上升沿来触发且仅可在所述脉冲已变低之后再次被触发，从而允许恰好在由第一比较器/鉴别器脉冲开始的空载时间的结束之前到达的第二比较器/鉴别器脉冲将所述空载时间扩展到所述第二比较器/鉴别器脉冲的后沿；

使用处理器根据所述所观测离子计数计算所观测离子计数率；以及

使用所述处理器，通过使用另外包含调整因子函数的用于非可瘫痪检测系统的真实离子计数率的方程式执行所述所观测离子计数率的空载时间校正而计算真实离子计数率，所述调整因子函数考虑到所述空载时间脉冲的所述扩展。