[发明专利]流量测量装置有效

专利信息
申请号: 201380025783.2 申请日: 2013-05-16
公开(公告)号: CN104303023B 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 芝文一;中林裕治;竹村晃一;藤井裕史 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: G01F1/66 分类号: G01F1/66;G01F1/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 流量 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种流量测量装置,具备:

流量信号检测部,其检测在流路中流动的被测定流体的流量信号;

流量运算部,其根据由上述流量信号检测部检测出的上述流量信号来计算流量;

振荡电路,其通过构成在与实现上述流量运算部的电路相同的半导体上的环形振荡器,产生基准时钟;

温度运算部,其根据上述振荡电路的由温度变化引起的频率变化来求出温度;以及

流量校正部,其根据由上述温度运算部计算出的温度与偏移流量之间的关系求出期望温度下的偏移流量来对由上述流量运算部计算出的上述流量进行校正。

2.一种流量测量装置,具备:

一对振子,该一对振子设置于被测定流体流过的流路,发送和接收超声波信号;

发送部,其驱动上述一对振子中的某一方的振子;

接收部,其接收来自上述一对振子中的另一方的振子的上述超声波信号;

时间测量部,其对上述超声波信号的发送和接收的传播时间进行计时;

流量运算部,其根据由上述时间测量部测量出的上述传播时间测量被测定流体的流速,根据上述流速计算流量;

振荡电路,其通过构成在与实现上述时间测量部和上述流量运算部的电路相同的半导体上的环形振荡器,产生用于测量上述传播时间的基准时钟;

温度运算部,其根据上述振荡电路的由温度变化引起的频率变化来求出温度;以及

流量校正部,其根据由上述温度运算部计算出的温度与偏移流量之间的关系求出期望温度下的偏移流量来对由上述流量运算部计算出的上述流量进行校正。

3.根据权利要求2所述的流量测量装置,其特征在于,

上述流量校正部具有校正学习部,该校正学习部对根据由上述时间测量部计时出的上述传播时间和由上述温度运算部求出的上述温度而确定的上述偏移流量的校正值进行学习。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下知识产权经营株式会社,未经松下知识产权经营株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380025783.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top