[发明专利]薄膜晶体管及其制造方法、显示装置和电子设备有效

专利信息
申请号: 201380027886.2 申请日: 2013-08-02
公开(公告)号: CN104350600A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 菅野道博;河村隆宏 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H01L29/66 分类号: H01L29/66;H01L29/786
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 梁兴龙;曹正建
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制造 方法 显示装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管,其包括:

基板;

在所述基板上的栅极;

对向所述栅极的半导体膜;

在所述半导体膜中的通道形成区域;

在所述基板上的一对源极区域和漏极区域;以及

在所述半导体膜的侧面的至少一部分上的绝缘膜。

2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其中,所述绝缘膜位于所述半导体膜的整个侧面上。

3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其中,所述绝缘膜与所述半导体膜的侧面平行。

4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,还包括位于所述半导体膜与所述栅极之间的栅极绝缘膜。

5.根据权利要求4所述的薄膜晶体管,其中,所述绝缘膜位于所述半导体膜与所述栅极绝缘膜之间的界面处。

6.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其中,所述栅极的长度x大于所述半导体膜的长度y。

7.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其中,所述栅极的长度x小于所述半导体膜的长度y。

8.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其中,所述半导体膜具有2nm~300nm的厚度。

9.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其中,所述绝缘膜包含SiO2、SiN或SiON中的至少一种。

10.一种显示装置,其包括:

像素驱动电路层;

发光元件层基板;以及

在所述像素驱动电路层中的薄膜晶体管,

其中,所述薄膜晶体管包括(i)基板,(ii)对向所述基板的栅极,(iii)在所述栅极上的半导体膜,(iv)在所述半导体膜中的通道形成区域,(v)在所述基板上的一对源极区域和漏极区域,以及(vi)在所述半导体膜的侧面的至少一部分上的绝缘膜。

11.一种薄膜晶体管的制造方法,所述方法包括如下步骤:

准备基板;

在所述基板上形成栅极;

形成对向所述栅极的半导体膜;

在所述半导体膜的侧面的至少一部分上形成绝缘膜;

形成源极区域;以及

形成漏极区域。

12.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其中,所述半导体膜包含多晶硅、非晶硅或者含有In、Ga、Zn、Sn、Al和Ti中的至少一种作为主要成分的氧化物。

13.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,还包括在所述半导体膜上的通道保护膜。

14.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,还包括在所述源极与所述漏极之间的通道保护膜,其中所述源极和所述漏极都与所述保护膜部分地重叠。

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