[发明专利]利用用于卷材制造或处理系统的自适应探测信号设计技术的闭环对准识别

权利要求书

1.一种方法，包括：

设计（308、400、500）探测信号，所述探测信号用于利用正在由卷材制造或处理系统（100）所制造或处理的材料的卷材（108）的测量结果来测试所述系统中的致动器（202）的对准；以及

在对准测试期间提供（310）所述探测信号以利用所述卷材的测量结果来识别所述致动器的对准；

其中，设计所述探测信号包括基于所述卷材制造或处理系统的空间和动态特性两者来设计所述探测信号。

2.权利要求1的方法，其中：

设计所述探测信号包括在与所述系统相关联的空间域和与所述系统相关联的动态域两者中设计（401、409）所述探测信号；

跨越所述卷材的宽度指引所述空间域；以及

沿着所述卷材的长度指引所述动态域。

3.权利要求1的方法，其中，设计所述探测信号包括确定如何在所述探测信号中部署扰动，所述扰动被部署为单侧碰撞、双侧碰撞或单侧与双侧碰撞的混合中的任何一个。

4.权利要求1的方法，其中：

设计所述探测信号包括确定如何在所述探测信号中部署扰动，所述扰动包括正碰撞和负碰撞；以及

所述探测信号被设计成使得正碰撞的数目至少近似等于负碰撞的数目。

5.权利要求1的方法，其中，设计所述探测信号包括：

将所述致动器的子集选择为第一集群，所述第一集群具有第一集群类型；

尝试将低边缘碰撞、高边缘碰撞以及中间碰撞中的至少一个定位于基础探测信号中；以及

如果不能对所述碰撞中的至少一个进行定位，则将所述致动器的另一子集选择为第二集群，所述第二集群具有第二集群类型。

6.权利要求1的方法，其中，设计所述探测信号包括：

识别与所述探测信号相关联的用户指定集群类型；

确定当前致动器设定点分布或致动器物理约束设立是否不能适应所述用户指定集群类型的探测信号；以及

基于所述确定，调整所述探测信号的集群类型和量值。

7.一种设备，包括：

至少一个处理单元（130），被配置成设计探测信号，所述探测信号用于利用正在由卷材制造或处理系统（100）所制造或处理的材料的卷材（108）的测量结果来测试所述系统中的致动器（202）的对准；以及

至少一个接口（134），被配置成在对准测试期间提供所述探测信号以利用所述卷材的测量结果来识别所述致动器的对准；

其中，所述至少一个处理单元被配置成基于所述卷材制造或处理系统的空间和动态特性两者来设计所述探测信号。

8.权利要求7的设备，其中，所述至少一个处理单元被配置成通过在没有用户输入的情况下自动地识别所述探测信号中的扰动的位置、量值、方向以及持续时间来设计所述探测信号。

9.权利要求7的设备，其中，所述至少一个处理单元被配置成通过以下各项来设计所述探测信号：

将所述致动器的子集选择为第一集群，所述第一集群具有第一集群类型；

尝试将低边缘碰撞、高边缘碰撞以及中间碰撞中的至少一个定位于基础探测信号中；以及

如果不能对所述碰撞中的至少一个进行定位，则将所述致动器的另一子集选择为第二集群，所述第二集群具有第二集群类型。

10.权利要求9的设备，其中，所述至少一个处理单元被配置成基于与所述卷材制造或处理系统相关联的收缩分布来选择致动器的子集。

11.权利要求7的设备，其中，所述至少一个处理单元被配置成通过以下各项来设计所述探测信号：

使用低通滤波器（404）来设计基础探测信号；以及

使用所述基础探测信号来设计包含扰动的探测信号。

12.权利要求11的设备，其中，所述至少一个处理单元被配置成通过迭代地生成基础探测信号直至与所述基础探测信号之一相关联的方差比满足阈值为止来设计所述基础探测信号。