[发明专利]X射线透视成像装置以及X射线透视成像装置的控制方法有效

专利信息
申请号: 201380028975.9 申请日: 2013-07-04
公开(公告)号: CN104334082B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 壁谷秀太郎 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B6/04 分类号: A61B6/04;A61B6/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 曾贤伟,文志
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 透视 成像 装置 以及 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线透视成像装置,其具备:

X射线源,其产生X射线;

床台顶板,其搭载被检测体;

X射线检测器,隔着所述床台顶板与所述X射线源相向配置,检测透过所述被检测体的X射线,输出与透过X射线的强度对应的电信号;以及

图像处理部,其生成基于所述电信号的X射线图像,

并且,X射线透视成像装置执行针对连续的每一帧生成X射线图像的透视和生成由静止图像构成的X射线图像的拍摄,

所述X射线透视成像装置的特征在于,具有:

床台支撑装置,其使所述床台顶板的长轴相对于水平面倾斜来进行支撑;

参数计算部,其计算表示所述床台顶板的倾斜姿势的姿势参数;

动作检测部,其基于所述连续的帧的X射线图像,检测所述被检测体的动作的大小;

动作容许值设定部,其根据所述姿势参数设定进行所述拍摄时的所述被检测体的动作大小的动作容许值;以及

拍摄控制部,其根据由所述动作容许值设定部设定的动作容许值,进行用于所述拍摄的动作控制。

2.根据权利要求1所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

还具备经过时间测量部,其测量从所述被检测体的动作的大小低于所述动作容许值开始的经过时间,将该经过时间与预先设定的待机时间进行比较,

当所述经过时间超过所述待机时间时,所述拍摄控制部进行用于所述拍摄的动作控制。

3.根据权利要求2所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

还具备待机时间设定部,其对应于所述姿势参数设定所述待机时间,

所述经过时间测量部将所述设定的待机时间与所述经过时间进行比较。

4.根据权利要求1所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

所述参数计算部包含角度计算部,其计算所述床台顶板的长轴相对于所述水平面的倾斜角度,

所述动作容许值设定部根据所述倾斜角度,随着所述床台顶板的头部侧与所述床台顶板的足部侧相比相对变低,设定所述动作容许值变大。

5.根据权利要求3所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

所述参数计算部包含角度计算部,其计算所述床台顶板的长轴相对于所述水平面的倾斜角度,

所述待机时间设定部根据所述倾斜角度,随着所述床台顶板的头部侧与所述床台顶板的足部侧相比相对变低,设定所述待机时间变短。

6.根据权利要求1所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

所述参数计算部包含测量倾斜时间的倾斜时间测量部,所述倾斜时间表示从所述床台顶板的头部侧与所述床台顶板的足部侧相比成为相对低的位置开始的时间,

所述动作容许值设定部随着所述倾斜时间变长,设定所述动作容许值变大。

7.根据权利要求3所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

所述参数计算部包含测量倾斜时间的倾斜时间测量部,所述倾斜时间表示从所述床台顶板的头部侧与所述床台顶板的足部侧相比成为相对低的位置开始的时间,

所述待机时间设定部随着所述倾斜时间变长,设定所述待机时间变短。

8.根据权利要求1所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

还具备X射线照射条件设定部,其进行控制从而随着所述动作容许值变大,减少所述拍摄的曝光时间。

9.根据权利要求8所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

所述X射线照射条件设定部为了使预先设定的1次拍摄中的X射线量恒定而进行控制,当减少所述拍摄的曝光时间时,增加在该拍摄中使用的X射线的曝光能量,当增加所述拍摄的曝光时间时,减少在该拍摄中使用的X射线的曝光能量。

10.根据权利要求8所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

所述X射线源包含焦点尺寸相对大的大焦点形成部和焦点尺寸相对小的小焦点形成部,

所述X射线照射条件设定部进行控制,当所述动作容许值在第一阈值以上时,使用所述大焦点形成部产生所述X射线,当所述动作容许值比第一阈值小时,使用所述小焦点形成部产生所述X射线。

11.根据权利要求3所述的X射线透视成像装置,其特征在于,

还具备X射线照射条件设定部,其进行控制从而随着所述待机时间变短,减少所述拍摄的曝光时间。

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