[发明专利]用于保护辐射窗口的设备有效
申请号: | 201380031898.2 | 申请日: | 2013-04-19 |
公开(公告)号: | CN104395983B | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | E·J·坎通纳;E·T·普萨里;H·J·西皮莱 | 申请(专利权)人: | 布鲁克AXS手持设备公司 |
主分类号: | H01J5/18 | 分类号: | H01J5/18 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人: | 马利蓉,吴鹏 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 保护 辐射 窗口 设备 | ||
1.一种辐射组件,包括:
围绕腔室的基部;
穿过所述基部延伸的开孔;
覆盖所述开孔的窗口,所述窗口配置成允许辐射通过,所述窗口配置成防止流体和颗粒通过所述开孔;和
能独立于所述基部和所述窗口的保护装置,所述保护装置可移除地耦联至所述基部并且与所述窗口隔开一定距离,所述保护装置包括:
延伸穿过所述保护装置并至少部分地与所述开孔对齐的多个孔眼,
接近所述多个孔眼覆盖该保护装置的至少一部分的第一涂层,所述第一涂层配置成吸收X射线能量,该X射线能量被确定为对使用该辐射组件所执行的光谱分析进行干扰;
所述保护装置配置成允许至少一些辐射通过所述多个孔眼,所述保护装置配置成防止比所述孔眼大的物体接触所述窗口。
2.根据权利要求1所述的辐射组件,还包括定位在所述窗口的一侧的辐射源装置。
3.根据权利要求2所述的辐射组件,还包括与辐射源装置定位在所述窗口的相同侧的辐射检测器装置。
4.根据权利要求1所述的辐射组件,其中,所述保护装置包括至少部分地覆盖所述第一涂层的第二涂层,所述第二涂层配置成吸收所述第一涂层所发出的X射线。
5.根据权利要求1所述的辐射组件,其中,所述保护装置包括至少部分地覆盖所述孔眼的第三涂层。
6.根据权利要求5所述的辐射组件,其中,所述第三涂层配置成防止流体和颗粒通过所述孔眼。
7.根据权利要求3所述的辐射组件,其中,所述保护装置配置成接触所关注的样品,以在所述样品与辐射源装置和辐射检测器装置中的至少一者之间建立预定的最优距离。
8.根据权利要求1所述的辐射组件,还包括围绕成对的辐射检测器装置和辐射源装置的中空的基部,所述中空的基部和所述窗口形成封闭的体积,所述封闭的体积包括受控的气氛。
9.一种确定材料样品的元素组成的方法,所述方法包括:
提供包括辐射源装置的第一辐射组件,所述第一辐射组件包括覆盖所述辐射源装置的第一窗口;
提供包括辐射检测器装置的第二辐射组件,所述第二辐射组件包括覆盖所述辐射检测器装置的第二窗口;
用独立的可移除的保护装置覆盖所述第一窗口和第二窗口中的至少一个,该保护装置构造成耦联至该第一辐射组件或该第二辐射组件中的相应一个的外表面,该保护装置包括延伸穿过所述保护装置并至少部分地与所述第一窗口和第二窗口中的至少一个对齐的多个孔眼,并且包括接近所述多个孔眼覆盖该保护装置的至少一部分的第一涂层,所述第一涂层配置成吸收X射线能量,该X射线能量被确定为对使用该第一辐射组件或第二辐射组件所执行的光谱分析进行干扰;
定位所述第一辐射组件和第二辐射组件中的至少一个以使所述保护装置接近所述材料样品;和
使用所述保护装置防止所述材料样品接触被覆盖的窗口。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,定位所述第一辐射组件和第二辐射组件中的至少一个包括将所述保护装置定位成与所述材料样品接触。
11.根据权利要求9所述的方法,还包括使用所述辐射源装置照射所述材料样品,所述照射导致所述材料样品产生荧光。
12.根据权利要求11所述的方法,还包括使用所发出的荧光辐射的波长分布和相对强度来确定所述材料样品的成份和这些成份的数量份额。
13.根据权利要求9所述的方法,还包括通过所述保护装置对所述辐射源装置所发出的辐射中的至少一些进行反射和吸收中的至少一个。
14.根据权利要求11所述的方法,还包括基于从所述材料样品发出的荧光辐射光谱、所述保护装置的布置和所述保护装置的开口面积的大小来确定所述材料样品的元素组成。
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