[发明专利]用于测量介质流速的测量装置

权利要求书

1.一种测量装置，用于在由磁场穿过的体积中测量导电介质的流速，所述测量装置具有：

用于产生磁场的器件，

至少两个电极，和

评估单元，所述评估单元评估来自所述电极的信号并计算流速，

其特征在于，所述至少两个电极与开关连接，所述开关构造成用于短接所述电极。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述开关是电子开关。

3.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述用于产生磁场的器件是永磁体。

4.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述开关包括至少一个晶体管，优选是金属氧化物半导体场效应晶体管MOSFET、特别是互补金属氧化物半导体集成电路CMOS-IC中的MOSFET。

5.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述开关在断开状态下具有至少10G欧姆、特别是至少100G欧姆的电阻。

6.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述开关在接通状态下具有最高1欧姆、优选最高0.1欧姆并且特别优选最高10毫欧姆的电阻。

7.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置具有用于所述开关的控制单元，其中，所述控制单元包括至少一个计时器。

8.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述控制单元构造成，使得开关在第一时段、特别是在0.3至1秒的时段的时长中闭合，并且在第二时段、特别是在1至3秒的时段的时长中断开，此外，所述评估单元构造成，使得在第二时段之后立即评估来自电极的信号。

9.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述评估单元具有滤波器电路，所述滤波器电路用于抑制高频干扰信号。

10.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述评估单元构造成通过校准表计算所述流速。

11.一种用于利用至少两个电极在磁场穿过的体积中测量导电介质的流速的方法，具有以下步骤：

在第一时段、特别是在0.3至1秒之间的时段期间短接所述电极，

在第二时段、特别是1至3秒之间的时段期间断开所述短接，

读出来自所述电极的有效信号，以及

基于读出的所述有效信号计算所述流速。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，在第二时段后立即读出有效信号。

13.根据权利要求11或12所述的方法，其特征在于，在第二时段开始时立即读出零点信号，并基于零点信号和有效信号、特别是基于零点信号和有效信号之间的差计算流速。

14.根据权利要求11至13中任一项所述的方法，其特征在于，周期性地执行所述方法步骤。