[发明专利]用于通过微波传输测量来测量样本的介电和/或磁性特性的装置

权利要求书

1.一种用于通过微波传输测量来测量样本(P)的介电和/或磁性特性的装置，所述装置包括：

发射天线(10)和接收天线(20)，其限定传输测量段，在该传输测量段中能够放置待测的所述样本(P)；

至少一个发射侧合成器(11，12，14)，其用于产生具有在800MHz到30GHz之间的频率的高频信号(F1，F2)；

频率标准(32)，其经由发射侧低频同步信号线(34a)连接到发射侧合成器(11，12，14)，发射侧合成器(12，14)可重现地锁相地耦合到所述频率标准(32)；以及

评估单元，其至少间接地连接到发射侧合成器(11，12，14)以及所述接收天线(20)，其特征在于，

另外设置至少一个接收侧合成器(22，23，24)，所述至少一个接收侧合成器(22，23，24)通过接收侧低频同步信号线(34b)连接到所述频率标准(32)，并且可重现地锁相地耦合到所述频率标准(32)，并且至少间接地连接到所述评估单元，

其中，所述装置包括多于一个发射侧合成器或多于一个接收侧合成器，并且其中，一个发射侧合成器和一个接收侧合成器产生同一高频。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

所述装置包括两个发射侧合成器(12，14)，所述两个发射侧合成器(12，14)的高频信号(F1，F2)被供应给发射侧混频器(16)，该发射侧混频器(16)的、在这两个高频信号的基础上产生的中频信号(lF1)被供应给所述评估单元，并且

由所述接收天线(20)接收的高频信号(F1')以及由接收侧合成器(22)产生的高频信号被供应给接收侧混频器(26)，接收侧混频器(26)的、从这两个高频信号产生的中频信号(lF2)被供应给所述评估单元，其中，

第一发射侧合成器(12)的高频信号被另外馈送到所述发射天线，并且

第二发射侧合成器(14)和接收侧合成器(22)产生所述同一高频，并且其中，由所述第一发射侧合成器(12)产生的高频与该同一高频不同。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

设置两个接收侧合成器(23，24)，所述两个接收侧合成器(23，24)的高频信号(F2，F3)被供应给第一接收侧混频器(27)，所述第一接收侧混频器(27)的、从这两个高频信号产生的中频信号(lF1)被供应给所述评估单元，并且

由所述接收天线(20)接收的高频信号(F1’)以及由第一接收侧合成器(23)产生的高频信号被供应给第二接收侧混频器(28)，所述第二接收侧混频器(28)的、由这两个高频信号产生的中频信号(IF2)被供应给所述评估单元，其中，

来自发射侧合成器(11)的高频信号被供应给所述发射天线，并且

发射侧合成器(11)以及第二接收侧合成器(24)产生所述同一高频，并且所述第一接收侧合成器(23)产生与该同一高频不同的高频。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

设置发射侧合成器(11)和接收侧合成器(22)，其中，来自这两个合成器的高频信号的频率是不同的，并且所述频率标准(32)经由附加的低频同步信号线(34)连接到所述评估单元，其中，所述频率标准的频率表示这两个高频信号的频率之间的差异。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

设置发射侧合成器(11)和接收侧合成器(22)，其中，来自这两个合成器的高频信号的频率是不同的，并且频率转换器经由附加的低频同步信号线(34c)而可重现地锁相地耦合到所述频率标准(32)，所述频率转换器还连接到所述评估单元，其中，所述频率转换器产生参考信号(RF)，该参考信号(RF)的频率表示这两个高频信号的频率之间的差异。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其特征在于，

所述测量段与传送机相交，具体地与传送带(60)相交，或者所述测量段位于容器或管(65)内。