[发明专利]用于探测微粒的传感器的功能检验的方法和用于探测微粒的传感器有效
| 申请号： | 201380032804.3 | 申请日： | 2013-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN104641216B | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | B·格特纳;M·克伦克;K·赫韦格;M·贝森 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;F01N11/00;F02D41/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 郭毅 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 探测 微粒 传感器 功能 检验 方法 | ||
1.一种用于探测微粒的传感器(10)的功能检验的方法，其中，所述传感器(10)包括至少两个测量电极(20)和一个加热元件(14)，所述至少两个测量电极设置在由电绝缘材料构成的衬底(18)上，其中，所述方法包括以下步骤：
在第一温度(42)时实施第一电流电压测量以求取第一测量参量；
在第二温度(60)时实施第二电流电压测量以求取第二测量参量；
形成所述第一测量参量和所述第二测量参量的差，
其中，基于所述差推断出所述传感器(10)的功能性。
2.根据以上权利要求所述的方法，其中，仅仅如果所述第一测量参量低于一个阈值，才实施所述第二电流电压测量。
3.根据以上权利要求中任一项所述的方法，其中，所述第二温度(60)低于所述第一温度(42)。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述第二温度(60)比所述第一温度(42)低80℃至220℃。
5.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述第二温度(60)比所述第一温度(42)低100℃至200℃。
6.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述第二温度(60)比所述第一温度(42)低120℃至180℃。
7.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在时间上在所述第一电流电压测量之后实施所述第二电流电压测量。
8.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在时间上在所述第一电流电压测量之后1.0s至20.0s实施所述第二电流电压测量。
9.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在时间上在所述第一电流电压测量之后1.0s至15s实施所述第二电流电压测量。
10.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在时间上在所述第一电流电压测量之后1.0至12s实施所述第二电流电压测量。
11.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在100ms至500ms的时间段上实施所述第一电流电压测量和/或所述第二电流电压测量。
12.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在200ms至400ms的时间段上实施所述第一电流电压测量和/或所述第二电流电压测量。
13.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在250ms至350ms的时间段上实施所述第一电流电压测量和/或所述第二电流电压测量。
14.根据权利要求1或2所述的方法，其中，确定所述第一测量参量和所述第二测量参量之间的差0.10μΑ至0.60μΑ作为用于确定所述传感器(10)的功能能力的阈值。
15.根据权利要求1或2所述的方法，其中，确定所述第一测量参量和所述第二测量参量之间的差0.15μΑ至0.35μΑ作为用于确定所述传感器(10)的功能能力的阈值。
16.根据权利要求1或2所述的方法，其中，确定所述第一测量参量和所述第二测量参量之间的差0.20μΑ至0.30μΑ作为用于确定所述传感器(10)的功能能力的阈值。
17.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在20s至80s的时间段上保持所述第一温度(42)基本恒定，其中，在所述时间段的结束时测量所述第一电流电压测量。
18.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在30s至60s的时间段上保持所述第一温度(42)基本恒定，其中，在所述时间段的结束时测量所述第一电流电压测量。
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