[发明专利]用于产生相位对比显示的方法和X射线系统

权利要求书

1.一种用于产生检查对象(P)的相位对比显示的方法，具有以下方法步骤：

1.1通过利用至少两个不同的X射线能量谱(2,3；4,5)确定对于X射线辐射的能量相关的衰减值，来确定在检查对象(P)中的电子密度分布，

1.2从先前确定的电子密度分布中确定相移值，并且

1.3从所计算的相移值中产生相位对比显示。

2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述电子密度沿着在焦点与探测器之间的X射线的线积分中确定所述电子密度分布。

3.按照权利要求2所述的方法，其特征在于，产生沿着穿过检查对象(P)的进行测量的X射线积分的相移的投影显示，作为相位对比显示。

4.按照权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，从来自不同投影方向的多个投影的相位对比显示中重建至少一个断层成像的相位对比显示。

5.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，确定在检查对象(P)中的局部电子密度值，作为所述电子密度分布。

6.按照权利要求5所述的方法，其特征在于，产生在检查对象(P)中的局部相移的断层成像显示，作为相位对比显示。

7.按照权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，通过确定在所测量的衰减值中的康普顿效应的部分，进行对在检查对象(P)中的电子密度分布的确定。

8.按照权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，借助基本材料分解方法进行对在检查对象(P)中的电子密度分布的确定。

9.按照权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，使用生物检查对象，优选患者，作为检查对象。

10.按照权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，为了从电子密度中确定相移，使用公式

δ≈NAre2πρeλ2]]>

其中，δ表示相移，N_A表示阿伏伽德罗常数，r_e表示经典电子半径，ρ_e表示电子密度，以及λ表示X射线辐射的波长。

11.一种用于对检查对象(P)进行成像的相位对比显示的X射线系统，具有用于控制的计算机系统(10)，其特征在于，在所述计算机系统(10)的存储器中存储了至少一个程序(Prg₁-Prg_n)，所述程序在运行中执行按照权利要求1至10中任一项所述的方法。

12.按照权利要求11所述的X射线系统，其特征在于，所述X射线系统被构造用于产生投影的X射线图像。

13.按照权利要求11所述的X射线系统，其特征在于，所述X射线系统被构造用于产生断层成像的X射线图像。