[发明专利]基于激光确定容器中的填充物质的料位的方法和设备在审

专利信息
申请号: 201380036697.1 申请日: 2013-06-07
公开(公告)号: CN104471358A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 克里斯蒂安·塞勒;让·施莱费尔伯克;哈特穆特·达姆;姜明政 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
主分类号: G01F23/292 分类号: G01F23/292;G01C3/00;G01S17/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 戚传江;金洁
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 基于 激光 确定 容器 中的 填充 物质 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种用于使用行进时间方法来基于激光确定容器中的填充物质的料位的方法,

其中,产生了预定脉冲宽度(Tp)的激光脉冲,

其中,在所述填充物质的表面方向上以定义的传输重复频率(fPulse)发送所述激光脉冲,

其中,所述激光脉冲的定义的传输重复频率(fPulse)对采样频率(fs)有定义的依赖性,

其中,以所述采样频率(fs)的周期的整个编号的数目是大于或小于所述传输重复频率(fPulse)的周期长度的预定时间间隔(Td)的这样的方式区分所述定义的依赖性,

其中,所述时间间隔(Td)被选择使得它对应于期望的采样分辨率并且小于所述采样频率(fs)的周期长度,

其中,接收在所述填充物质的表面上反射之后的激光脉冲,

其中,以这样的方式以采样频率(fs)对在所述填充物质的表面上反射的激光脉冲进行采样,使得对于每一激光脉冲多个采样值被记录并且在每种情况下被存储为子回波曲线(SEK),

其中,所存储的子回波曲线(SEK)在测量循环之后被组合为总回波曲线(EK),并且

其中,基于所述总回波曲线(EK)来确定所述料位。

2.如权利要求1所述的方法,

其中,所述定义的传输重复频率(fPulse)与所述采样频率(fs)之间的定义的依赖性通过从两个不同的频率产生组件(1,8)产生所述传输重复频率(fPulse)和所述采样频率(fs)来实现,

其中,所述传输重复频率(fPulse)与所述采样频率(fs)之间的恒定差频经由控制电路(5,8)而设定,并且

其中,所述传输重复频率(fPulse)与所述采样频率(fs)从由所述组件(1,8)所产生的频率(fPulse,fs)直接地获得,或者

其中,所述传输重复频率(fPulse)和所述采样频率(fs)经由乘或除由所述组件(1,8)所产生的两个频率(fPulse,fs)间接地获得。

3.如权利要求1或2所述的方法,

其中,所述定义的传输重复频率(fPulse)与所述采样频率(fs)之间的预定依赖性通过经由第一频率产生组件(1)产生大于所述传输重复频率(fPulse)的基频(f)来实现,

其中,所述传输重复频率(fPulse)通过乘以预定分频因子(TF)从所述基频(f)获得,并且

其中,所述采样频率(fs)经由第二频率产生组件(8)生成。

4.如权利要求3所述的方法,

其中,所述分频因子优选地是1/2n(其中n=1,2,3,…)。

5.如权利要求1、2、3或4所述的方法,

其中,所述基频(f)和所述激光脉冲的采样频率(fs)优选位于100-200MHz的频率范围内。

6.如权利要求1、2、3、4或5所述的方法,

其中,用于提供料位测量值的所述时间间隔被选择使得,一方面,满足对于用于在料位测量技术中应用的基于激光的技术的测量精确度的要求,并且另一方面,满足对于基于激光的技术的用户的安全要求。

7.如权利要求6所述的方法,

其中,以小于1ms的时间间隔提供测量循环的料位测量值。

8.如前述权利要求中的一项或多项所述的方法,

其中,基于所述基频(f)和所述采样频率(fs),产生差频(fdiff),所述差频被控制为恒定值。

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