[发明专利]用于诊断电路装置的设备

权利要求书

1.用于诊断电路装置的短路和/或断线的设备，其中该电路装置包括至少两个并联的负载回路（10、20、30），其中

- 电流测量装置（40）连接在至少两个并联的负载回路（10、20、30）的公共的供电线路内，用于提供代表在该公共的供电线路内的电流的电流信号（V_{HS_CUR}）；

- 提供电压测量装置（50），用于在各自开关元件（12、22、32）的两个开关状态下检测和提供每个负载回路（10、20、30）的节点电压（V1、V2、V3）；

- 分析装置（60），能够向该分析装置供给所述电流信号和所述节点电压（V1、V2、V3），其中该分析装置构造用于，把所述电流信号变换为至少一个逻辑电流值（OC_HS、UC_HS）和把所述节点电压（V1、V2、V3）变换为逻辑电压值（LS_High、LS_Low），并且根据所述至少一个逻辑电流值（OC_HS、UC_HS）和所述逻辑电压值（LS_High、LS_Low）的预先给定的组合推断故障的种类和位置，

其中每一个负载回路（10、20、30）由负载（11、21、31）和可控的开关元件（12、22、32）组成的串联电路构成，

其中所述分析装置（60）包括电流分析单元，该电流分析单元构造为比较所述电流信号（V_{HS_CUR}）与第一阈值（V_{HS_OC_THD}）和第二阈值（V_{HS_UC_THD}），其中与所述第一阈值（V_{HS_OC_THD}）的比较结果代表第一逻辑电流值（OC_HS），与所述第二阈值（V_{HS_UC_THD}）的比较结果代表第二逻辑电流值（UC_HS），以及

其中所述分析装置（60）包括电压分析单元（66），该电压分析单元构造为比较节点电压与第一阈值（V_{LS_High_THD}）和第二阈值（V_{LS_Low_THD}），其中与第一阈值（V_{LS_High_THD}）的比较结果代表第一逻辑电压值（LS_Hign），与第二阈值（V_{LS_Low_THD}）的比较结果代表第二逻辑电压值（LS_Low）。

2.根据权利要求1所述的设备，其中至少两个负载回路（10、20、30）的并联电路连接在第一供电电位连接端子（1）和参考电位连接端子（3）之间。

3.根据权利要求2所述的设备，其中所述可控的开关元件（12、22、32）连接在所述负载（11、21、31）和所述参考电位连接端子（3）之间。

4.根据上述权利要求之一所述的设备，其中所述电流测量装置（40）连接在第一供电电位连接端子（1）和施加有供电电压（V_BAT）的第二供电电位连接端子（2）之间。

5.根据权利要求1至3之一所述的设备，其中所述电流测量装置（40）包括测量元件（41）和差分放大器（43）,其中能够给该差分放大器供给在所述测量元件（41）上降落的电压，以便由此产生可向所述分析装置（60）供给的电流信号（V_{HS_CUR}）。

6.根据权利要求5所述的设备，其中所述测量元件（41）是电流测量电阻或者是可控的半导体开关元件。

7.根据权利要求1所述的设备，其中电流分析单元（61）是窗口比较器。

8.根据权利要求1所述的设备，其中所述电压分析单元（66）包括窗口比较器。

9.根据权利要求8所述的设备，其中能够通过多路复用器（67）向所述窗口比较器供给各自的节点电压。