[发明专利]用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化

权利要求书

1.一种用于监测动态环境中荧光计的性能的系统，所述系统包括：

荧光计，所述荧光计包括两个或更多个通道，每个通道具有单独的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器，并且其中每个通道被配置成将光源会聚到检测区；

支承架，所述支承架包括两个或更多个荧光参考标准物，每个荧光参考标准物对应于所述荧光计的单个通道，其中所述支承架被构造为容纳两个或更多个可移除的容器管；以及

驱动装置，所述驱动装置被配置成调整所述参考标准物与所述荧光计之间的相对横向定位，使得所述两个或更多个荧光参考标准物中的每个可被定位成进入或离开与所述荧光计的其对应通道光学连通。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述荧光参考标准物被定位成与所述荧光计的所述对应通道光学连通，并且其中所述荧光参考标准物相比于所述检测区偏离焦点。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述两个或更多个荧光参考标准物在所述支承架上设置成直线排列。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，其中所述支承架包括荧光参考标准物的两个或更多个直线排列。

5.根据权利要求4所述的系统，其中每个直线排列包括具有区别于荧光参考标准物的其他直线排列中的每一者的发射特性的一组荧光参考标准物。

6.根据权利要求3所述的系统，其中所述直线排列中的所述荧光参考标准物中的至少一个具有区别于所述直线排列中的其他荧光参考标准物中的至少一个的发射特性。

7.根据权利要求3所述的系统，其中所述直线排列中的相邻荧光参考标准物具有不同的发射特性。

8.根据权利要求4所述的系统，其中所述支承架包括荧光参考标准物的三个直线排列，并且其中所述直线排列中的至少一个包括具有区别于荧光参考标准物的另外两个直线排列的发射特性的一组荧光参考标准物。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的系统，其中所述荧光参考标准物由荧光塑料构成。

10.根据权利要求9所述的系统，其中所述荧光参考标准物分别是粉红色、绿色、蓝色或琥珀色塑料。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的系统，其中每次仅一个所述荧光参考标准物可被定位成与所述荧光计的所述两个或更多个通道中的一个光学连通。

12.根据权利要求2所述的系统，其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约1％到99％之间更靠近所述对应通道。

13.根据权利要求2所述的系统，其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约20％到80％之间更靠近所述对应通道。

14.根据权利要求2所述的系统，其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约60％到90％之间更靠近所述对应通道。

15.根据权利要求2所述的系统，其中所述荧光参考标准物被定位成与其对应通道的距离跟所述通道与所述检测区之间的距离相同。

16.根据权利要求2所述的系统，其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约1％到99％之间更远离其对应通道。

17.根据权利要求2所述的系统，其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约20％到80％之间更远离其对应通道。

18.根据权利要求2所述的系统，其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约60％到90％之间更远离其对应通道。

19.根据权利要求1至18中任一项所述的系统，其中所述荧光计是静止的，并且所述驱动装置被配置成通过调整所述支承架的横向定位来调整所述参考标准物与所述荧光计之间的相对横向定位。

20.根据权利要求1至19中任一项所述的系统，其中所述支承架包括可旋转圆形传送盘，并且其中所述荧光计被相对于所述圆形传送盘固定，且所述驱动装置被配置成通过使所述圆形传送盘围绕中心轴产生角运动来调整所述参考标准物与所述荧光计之间的相对横向定位。