[发明专利]用于确定物体中的几何特征的方法和系统

权利要求书

1.一种用于确定物体中的至少一个几何特征的位置的方法，所述方法包括：

接收对入射于所述物体上的超声波束的至少一个几何特征响应，其中所述超声波束从多个超声波传感器中的一个产生；

基于多个物体参数产生所述物体的体积表示；

基于所述物体中的并且源自所述超声波传感器的预测超声波束遍历路径产生对所述超声波束的预测渡越时间几何特征响应的时间图，其中所述预测超声波束遍历路径基于所述物体的所述体积表示和多个传感器参数产生；以及

所述物体的所述体积表示上的位置当所述接收几何特征响应等同于对应于所述位置的所述预测渡越时间几何特征响应时，将被确定为所述几何特征的位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述预测超声波束遍历路径是来自所述超声波传感器的所述超声波束在所述物体中的运行路径的表示。

3.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括在收集所述几何特征响应之前相对于所述物体校正所述多个超声波传感器。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述几何特征包括在所述物体中观察到的异常现象。

5.根据权利要求1所述的方法，其中接收所述至少一个几何特征响应进一步包括接收1维响应图表。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述1维响应图表包括关于来自所述几何特征的所述超声波束的所接收的所述响应的振幅信息。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个物体参数包括所述物体的直径、所述物体的长度、所述物体的几何形状和所述物体的厚度中的至少一个。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个传感器参数包括所述超声波传感器沿所述物体的位置、所述传感器的大小、所述传感器的入射角和所述传感器的频率。

9.一种用于确定物体中的至少一个几何特征的位置的系统，所述系统包括：

至少一个超声波传感器，所述至少一个超声波传感器配置用于在物体中发射超声波束并且接收对所述超声波束的至少一个几何特征响应；以及

处理器，所述处理器配置用于：

_基于多个物体参数产生所述物体的体积表示；

_基于所述物体中的并且源自所述超声波传感器的预测超声波束遍历路径产生所述超声波束的预测渡越时间几何特征响应的时间图，其中所述预测超声波束遍历路径基于所述物体的所述体积表示和多个传感器参数产生；以及

_所述物体的所述体积表示上的位置在所述接收几何特征响应等同于对应于所述位置的所述预测渡越时间几何特征响应时，将被确定为所述几何特征的位置。

10.根据权利要求9所述的系统，其中所述预测超声波束遍历路径为来自所述超声波传感器的所述超声波束在所述物体中的运行路径的表示。

11.根据权利要求9所述的系统，所述系统进一步包括配置用于将所述物体中的所述几何特征的位置呈现在所述物体的所述体积表示上的用户界面。

12.根据权利要求9所述的系统，其中对所述超声波束的所述响应以1维响应图表的形式接收。

13.根据权利要求12所述的系统，其中所述1维响应图表包括关于从所述几何特征接收的所述几何特征响应的振幅信息。

14.根据权利要求9所述的系统，其中所述多个物体参数包括所述物体的直径、所述物体的长度、所述物体的几何形状和所述物体的厚度中的至少一个。

15.根据权利要求9所述的系统，其中所述多个传感器参数包括所述超声波传感器沿所述物体的位置、所述传感器的入射角、所述传感器的大小和所述传感器的频率中的至少一个。

16.根据权利要求9所述的系统，所述系统进一步包括用于存储所述物体中的所述几何特征的位置的数据库。

17.根据权利要求16所述的系统，其中所述处理器进一步配置用于基于所述物体中的所述几何特征的实际位置与存储在所述数据库中的数据的比较校正新物体中几何特征的位置的误差。

18.一种体现为计算机可执行指令的非暂时性计算机可读介质，当由处理器执行时，所述计算机可执行指令导致所述计算机执行一种确定物体中的至少一个几何特征的位置的方法，所述非暂时性计算机可读介质包括：

用于接收对入射于所述物体上且由至少一个超声波传感器产生的超声波束的几何特征响应的程序指令；

用于基于多个物体参数产生所述物体的体积表示的程序指令；

用于基于所述物体中的并且源自所述超声波传感器的预测超声波束遍历路径产生所述超声波束的预测渡越时间几何特征响应的时间图的程序指令，其中所述预测超声波束遍历路径基于所述物体的所述体积表示和多个传感器参数产生；以及

用于将所述物体的所述体积表示上的位置在所述接收几何特征响应等同于对应于所述位置的所述预测渡越时间几何特征响应时确定为所述几何特征的位置的程序指令。