[发明专利]片材制造或加工系统中的使用相交线的片材产品非接触厚度测量

权利要求书

1.一种用于片材测量的方法，所述方法包括：

获得材料的片材（108）的多个图像，所述图像包含投影到所述片材的第一侧上的第一条线（204、404、504、524a-524c、544a-544c）和投影到所述片材的第二侧上的第二条线（206、406、506a-506c、526a-526c、546a-546c），所述图像包括：

至少一个第一图像，其包含了从所述片材的所述第一侧反射的所述第一条线和透射穿过所述片材的所述第二条线；和

至少一个第二图像，其包含了从所述片材的所述第二侧反射的所述第二条线和透射穿过所述片材的所述第一条线；

识别所述图像中的至少一个相交点（410、508、528、548），在所述至少一个相交点处，所述线在所述片材上相交；并且

使用所述至少一个相交点来识别所述片材的厚度。

2.如权利要求1所述的方法，其中：

识别所述至少一个相交点包括：

识别所述至少一个第一图像中的第一相交点；和

识别所述至少一个第二图像中的第二相交点；并且

识别所述片材的厚度包括：

使用所述第一相交点来识别至所述片材的所述第一侧的第一距离；

使用所述第二相交点来识别至所述片材的所述第二侧的第二距离；和

使用所述第一和第二距离来识别所述片材的厚度。

3.如权利要求1所述的方法，其中：

多条线（524a-524c、544a-544c、506a-506c、526a-526c、546a-546c）被投影到所述片材的至少一侧的每侧上；并且

识别所述至少一个相交点包括识别多个相交点。

4.如权利要求3所述的方法，其中：

识别所述片材的厚度包括识别多个厚度测量结果，所述多个厚度测量结果是基于所述多个相交点并使用至所述片材的至少一侧的每侧的多个距离而识别的；并且

使用所述多个厚度测量结果来识别最终厚度测量结果。

5.如权利要求1所述的方法，其中，识别所述至少一个相交点包括：

在多个像素群（408）中识别与所述线中的一条相关的多个点，包括在估计的相交点（410）周围的像素群；

使用所述多个点产生经过插值的线或曲线；和

使用所述经过插值的线来识别实际的相交点。

6.如权利要求5所述的方法，其中，所述多个像素群包括包含了所述估计的相交点的像素群（408）。

7.如权利要求1所述的方法，其中：

所述线中的至少一条在其宽度上具有非均匀的强度；

所述方法还包括识别所述线中的至少一条的具有最大强度的部分；并且

识别所述至少一个相交点包括使用所述线中的至少一条的被识别的部分来识别相交点。

8.一种用于片材测量的系统，所述系统包括：

多个照明源（202a-202b），其被构造成将第一条线（204、404、504、524a-524c、544a-544c）投影到片材（108）的第一侧上，并将第二条线（206、406、506a-506c、526a-526c、546a-546c）投影到所述片材的第二侧上；

多个探测器（208a-208b），其被构造成获得所述片材的多个图像，所述图像包括：

至少一个第一图像，其包含了从所述片材的所述第一侧反射的所述第一条线和透射穿过所述片材的所述第二条线；和

至少一个第二图像，其包含了从所述片材的所述第二侧反射的所述第二条线和透射穿过所述片材的所述第一条线；以及

至少一个处理设备（250），其被构造成识别所述图像中的至少一个相交点（410、508、528、548）并使用所述至少一个相交点来识别所述片材的厚度，在所述至少一个相交点处，所述线在所述片材上相交。

9.如权利要求8所述的系统，其中，所述至少一个处理设备被构造成：

识别所述至少一个第一图像中的第一相交点；

识别所述至少一个第二图像中的第二相交点；

使用所述第一相交点来识别至所述片材的所述第一侧的第一距离；

使用所述第二相交点来识别至所述片材的所述第二侧的第二距离；并且

使用所述第一和第二距离来识别所述片材的厚度。