[发明专利]用于对蒸气压缩系统的温度传感器进行校准的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于对安排在蒸气压缩系统如制冷系统、空调系统或热泵中的温度传感器进行校准的方法。本发明的方法允许以一种简单方式校准该蒸气压缩系统的温度传感器，如用于确定离开蒸发器的制冷剂的过热度的一个温度传感器。

背景技术

蒸气压缩系统通常包括一个压缩机；一个冷凝器；一个膨胀装置，如处于膨胀阀的形式；以及被安排在制冷剂路径中的一个蒸发器。在该制冷剂路径中流动的制冷剂被交替地压缩和膨胀，并且在该冷凝器中和蒸发器中发生了热交换。由此对封闭的体积提供制冷或加热。

到蒸发器的制冷剂供应经常是在离开该蒸发器的制冷剂的过热度基础上进行控制的。该过热度是离开该蒸发器的制冷剂的温度与离开该蒸发器的制冷剂的露点之差。高过热度值表明，离开蒸发器的制冷剂是气态的并且该气态制冷剂已经在该蒸发器中被加热。因此，高过热度值表明，该蒸发器的潜在制冷能力没有以有效方式得到利用。

另一方面，零过热度表明，液态制冷剂可能穿过该蒸发器并且进入抽吸管线。这是一个缺点，因为如果液态制冷剂被允许到达压缩机则可能损坏该压缩机。因此，希望按以下方式运行该蒸气压缩系统，即，使得离开蒸发器的制冷剂过热度小但为正。为了实现这点，必须在该蒸气压缩系统的运行过程中对离开蒸发器的制冷剂的过热度进行监测。例如，这可以通过测量进入蒸发器的制冷剂的温度以及离开该蒸发器的制冷剂的温度来实现。作为一个替代方案，可以测量离开蒸发器的制冷剂的温度和压力。在任何情况下，为了能够控制该蒸气压缩系统以便准确地获得期望的低过热度值，有必要对用于测量在制冷剂路径中流动的制冷剂的温度和/或压力的传感器进行适当校准。

JP 2008 202911披露了一种制冷装置，该制冷装置对设置在蒸发器的入口和出口处的制冷剂温度传感器实施了校准。一个控制部包括运行控制部，用于设定在该制冷装置的运行状态下该蒸发器的入口和出口的制冷剂为饱和时的状态。安排了一个温度传感器校准部以获取在由该操作控制部设定的饱和运行状态下这两个制冷剂温度传感器的检测值、并校准这些制冷剂温度传感器的误差。一个校正控制部存储该温度传感器校准部的校准结果，并且这些制冷剂温度传感器的检测值在该校准结果的基础上被校正。在JP 2008 202911的方法中，蒸发器是满流状态以便校准这些温度传感器，由此引入了该液态制冷剂进入抽吸管线并到达压缩机的风险。

发明内容

本发明的多个实施例的目的在于提供一种用于对安排在蒸气压缩系统中的温度传感器进行校准的方法，所述方法允许实现对该传感器的容易且精确的校准。

本发明的多个实施例的进一步的目的在于提供一种用于对安排在蒸气压缩系统中的温度传感器进行校准的方法，所述方法允许实现对该传感器的精确校准，甚至在该蒸气压缩系统的运行过程中也是如此。

本发明的多个实施例的更进一步的目的在于提供一种用于对安排在蒸气压缩系统中的温度传感器进行校准的方法，其中，该方法可以在该蒸发器未满流的情况下进行。

本发明提供了一种用于对安排在蒸气压缩系统中的温度传感器进行校准的方法，该蒸气压缩系统包括一个压缩机、一个冷凝器、具有可变开放度的一个膨胀装置、以及沿着制冷剂路径所安排的一个蒸发器，该蒸气压缩系统进一步具有被安排在该制冷剂路径中于该蒸发器的一个入口开口处的一个第一温度传感器S₁以及被安排在该制冷剂路径中于该蒸发器的一个出口开口处的一个第二温度传感器S₂，该方法包含以下步骤：

～-在一个最大开放度与一个最小开放度之间交替地增大和减小该膨胀装置的开放度，由此限定该膨胀装置的开放度的多个周期，

～-至少对于该膨胀装置的开放度的每个周期的一部分，通过该第一温度传感器S₁来监测进入该蒸发器的制冷剂的温度、并且通过该第二温度传感器S₂来监测离开该蒸发器的制冷剂的温度，

～-对于该膨胀装置的开放度的每个周期，记录由该第一温度传感器S₁测量的一个最高温度T_1，max、并且记录由该第二温度传感器S₂测量的一个最低温度T_2，min，

～-对于该膨胀装置的开放度的每个周期，计算一个校准值ΔT₁，其方式为ΔT₁＝C-(T_2，min-T_1，max)，其中C是一个常数，