[发明专利]光电子半导体构件、转换介质小板和用于制造转换介质小板的方法有效
申请号: | 201380042300.X | 申请日: | 2013-07-30 |
公开(公告)号: | CN104521015B | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 阿莱斯·马尔基坦;克里斯蒂安·盖特纳;汉斯-克里斯托弗·加尔迈尔;约恩·斯托;赫贝特·布伦纳;托马斯·施勒雷特 | 申请(专利权)人: | 欧司朗光电半导体有限公司 |
主分类号: | H01L33/50 | 分类号: | H01L33/50 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 丁永凡,张春水 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光电子 半导体 构件 转换 介质 小板 用于 制造 方法 | ||
1.一种光电子半导体构件(1),具有:
-至少一个光电子半导体芯片(3),以用于产生初级辐射;和
-转换介质小板(4),所述转换介质小板安置在所述半导体芯片(3)的辐射主侧(30)上并且所述转换介质小板构建成用于将所述初级辐射至少部分地转换成次级辐射,其中
-所述转换介质小板(4)包括基体材料(42)和嵌入其中的转换介质颗粒(43),
-所述转换介质小板(4)具有第一转换层(41a),所述第一转换层距所述半导体芯片(3)最近,其中在所述第一转换层(41a)中的转换介质颗粒(43)单独地或者与可选的扩散介质颗粒(45)一起以至少50%的体积份额存在,
-所述转换介质小板(4)包括结合层(41c),所述结合层距所述半导体芯片(3)最远,并且在所述结合层中的转换介质颗粒(43)具有最高2.5%的体积份额,
-所述转换介质小板(4)具有设置在所述第一转换层和所述结合层之间的另一转换层(41b),
-所述第一转换层(41a)包括用于产生较长波长辐射的第一转换介质颗粒(43a),
-所述另一转换层(41b)包括用于产生较短波长辐射的第二转换介质颗粒(43b),
-所述第一转换介质颗粒(43a)具有比所述第二转换介质颗粒(43b)更小的平均直径,并且
-所述第一转换层(41a)具有比所述另一转换层(41b)更高的转换介质颗粒浓度。
2.根据权利要求1所述的光电子半导体构件(1),其中
所述第一转换介质颗粒和第二转换介质颗粒单独地或与所述扩散介质颗粒一起分别紧密封装地存在。
3.根据权利要求1所述的光电子半导体构件(1),其中所述转换层(41a,41b)和所述结合层(41c)分别具有基体材料,所述转换介质颗粒(43)嵌入到所述基体材料中,其中所述基体材料是硅树脂、环氧化物或硅树脂-环氧化物杂化材料。
4.根据权利要求1所述的光电子半导体构件(1),其中
-所述第一转换层(41a)包括用于产生红光的所述第一转换介质颗粒(43a),
-所述另一转换层(41b)包括用于产生绿光的所述第二转换介质颗粒(43b)。
5.根据权利要求1所述的光电子半导体构件(1),其中所述转换层(41a,41b)和所述结合层(41c)直接相继并且所述第一转换介质颗粒(43a)具有0.5μm和5.0μm之间的平均直径,并且所述第二转换介质颗粒(43b)具有5μm和25μm之间的平均直径,其中包括边界值。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的光电子半导体构件(1),所述光电子半导体构件还包括具有载体上侧(20)的载体(2),其中
-所述半导体芯片(3)安置在所述载体上侧(20)上,和
-所述转换介质小板(4)与所述载体(2)间隔开。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的光电子半导体构件(1),其中所述转换介质颗粒(43)至少部分地相互接触,使得在所述转换介质颗粒(43)之间局部地不存在基体材料(42)。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的光电子半导体构件(1),其中所述转换介质小板(4)具有30μm和300μm之间的厚度,其中包括边界值,其中所述结合层(41c)共计占所述转换介质小板(4)的厚度的份额的至少70%。
9.根据权利要求1至5中任一项所述的光电子半导体构件(1),其中在所述结合层(41c)和直接邻接的所述转换层(41a,41b)之间的过渡区域具有所述转换层(41a,41b)的所述转换介质颗粒的最高1.5倍的平均直径的厚度。
10.根据权利要求1至5中任一项所述的光电子半导体构件(1),其中
-更靠近所述半导体芯片(3)的所述转换层(41a)也包括出自所述另一转换层(41b)的转换介质颗粒(43b),和
-所述另一转换层(41b)不具有出自更靠近所述半导体芯片(3)的所述转换层(41a)的转换介质颗粒(43a)。
11.根据权利要求1至5中任一项所述的光电子半导体构件(1),其中所述转换介质小板(4)局限于所述辐射主侧(30)并且横向地不超出所述半导体芯片(3)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧司朗光电半导体有限公司,未经欧司朗光电半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380042300.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。