[发明专利]摄像透镜镜筒及其动作控制方法

权利要求书

1.一种摄像透镜镜筒，其具备：

镜筒主体，将摄像透镜保持为能够沿光轴方向移动；

旋转体，随着上述摄像透镜的移动进行旋转，并且沿着周向平行地形成有第1磁标尺及第2磁标尺，上述第1磁标尺及第2磁标尺分别被周期性磁化有不同波长的磁分量；

第1磁传感器，通过上述旋转体的旋转，从上述第1磁标尺检测第1相位信号及相位相对于第1相位信号偏离的第2相位信号；

第2磁传感器，通过上述旋转体的旋转，从上述第2磁标尺检测第3相位信号及相位相对于第3相位信号偏离的第4相位信号；

相位差计算构件，使用在上述第1磁传感器中检测出的第1相位信号及第2相位信号、以及在上述第2磁传感器中检测出的第3相位信号及第4相位信号来计算第1相位信号与第3相位信号的相位差；

校正表存储器，存储以不同的速度移动上述摄像透镜时所获得的多个校正表，上述多个校正表校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差与上述相位差的设计值之间的差量；

相位差校正构件，使用上述多个校正表中与上述摄像透镜的移动速度对应的校正表来校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差；及

绝对位置计算构件，根据通过上述相位差校正构件校正过的相位差和预先规定的相位差与摄像透镜的绝对位置之间的关系来计算上述摄像透镜的绝对位置。

2.根据权利要求1所述的摄像透镜镜筒，其中，

上述校正表存储器中存储有以上述不同的速度的每一个沿不同的方向移动上述摄像透镜时所获得的2个校正表，上述2个校正表表示在上述相位差计算构件中计算出的相位差与上述相位差的设计值之间的差量，

上述相位差校正构件使用上述2个校正表中与上述摄像透镜的移动方向对应的校正表来校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差。

3.根据权利要求1或2所述的摄像透镜镜筒，其中，

上述相位差计算构件计算n个相位差的平均值，所述相位差是使用在上述第1磁传感器中检测出的第1相位信号及第2相位信号、以及在上述第2磁传感器中检测出的第3相位信号及第4相位信号而被计算出的。

4.根据权利要求3所述的摄像透镜镜筒，其中，

上述校正数据存储器中按摄像透镜的每一移动位置存储有对于包含与移动位置对应的上述相位差在内的n个相位差的与上述相位差的设计值之间的差量的平均值作为校正表。

5.一种摄像透镜镜筒的动作控制方法，上述摄像透镜镜筒具备：镜筒主体，将摄像透镜保持为能够沿光轴方向移动；及旋转体，随着上述摄像透镜的移动进行旋转，并且沿着周向平行地形成有第1磁标尺及第2磁标尺，上述第1磁标尺及第2磁标尺分别被周期性磁化有不同波长的磁分量，其中，

第1磁传感器通过上述旋转体的旋转，从上述第1磁标尺检测第1相位信号及相位相对于第1相位信号偏离的第2相位信号，

第2磁传感器通过上述旋转体的旋转，从上述第2磁标尺检测第3相位信号及相位相对于第3相位信号偏离的第4相位信号，

相位差计算构件使用在上述第1磁传感器中检测出的第1相位信号及第2相位信号、以及在上述第2磁传感器中检测出的第3相位信号及第4相位信号来计算第1相位信号与第3相位信号的相位差，

相位差校正构件使用多个校正表中与上述摄像透镜的移动速度对应的校正表来校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差，多个上述校正表是以不同的速度移动上述摄像透镜时所获得的、用于校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差与上述相位差的设计值之间的差量的校正表，

绝对位置计算构件根据通过上述相位差校正构件校正过的相位差和预先规定的相位差与摄像透镜的绝对位置之间的关系来计算摄像透镜的绝对位置。