[发明专利]利用移动坐标测量机来确定空间坐标的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201380043952.5 申请日: 2013-08-13
公开(公告)号: CN104583709B 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: 波·佩特尔松;帕斯卡尔·乔迪尔 申请(专利权)人: 赫克斯冈技术中心
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B21/04
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;刘久亮
地址: 瑞士赫*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 利用 移动 坐标 测量 确定 空间 标的 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于利用移动坐标测量机(1)来确定对象(3)的局部结构(2,2')的测量点的至少一个空间坐标的方法,所述方法至少包括以下步骤:

·将所述移动坐标测量机(1)放置在要测量的所述对象(3)的表面(30)上,以使得所述移动坐标测量机(1)自主地直立在所述表面(30)上,

·利用感测头接近所述测量点,以及

·确定至少一个测量点的至少一个空间坐标,

其特征在于,

建立所述移动坐标测量机(1)与所述局部结构(2,2')之间的限定空间关系,其中,借助于以下各项建立所述限定空间关系:

·所述移动坐标测量机(1)到所述对象(3)的机械固定,和/或

·所述移动坐标测量机(1)相对于所述对象(3)的位置和取向的连续确定。

2.根据权利要求1所述的方法,

其特征在于,

相对于所述局部结构(2,2')来定位所述移动坐标测量机(1)并且维持所述位置。

3.根据权利要求2所述的方法,

其特征在于,

所述相对于所述局部结构(2,2')来定位所述移动坐标测量机(1)并且维持所述位置,是

·完全自主地通过所述移动坐标测量机(1)的定位装置(15,16,17,25)和/或

·以相对于所述局部结构(2,2')和/或相对于外部勘测仪器(5,6)连续地确定所述移动坐标测量机(1)的基座(10)和/或所述移动坐标测量机(1)的传感器装置的位置和取向的这样一种方式。

4.根据权利要求1或2所述的方法,

其特征在于,

所述局部结构是孔(2),并且接近所述测量点包括将所述移动坐标测量机(1)的触针(21)引入到所述孔(2)中。

5.根据权利要求4所述的方法,

其特征在于,

沿着所述孔(2)的中心轴(8)将所述移动坐标测量机(1)的触针(21)引入到所述孔(2)中。

6.根据权利要求4所述的方法,

其特征在于,

所述孔(2)是钻孔。

7.根据权利要求4所述的方法,

其特征在于,

所述至少一个测量点的至少一个空间坐标的所述确定包括

·使所述触针(21)绕旋转轴(7)旋转,

·向所述孔(2)的壁上的多个测量点发射第一测量光束(83),

·接收所述第一测量光束(83)从所述多个测量点的反射,以及

·基于所述反射来确定所述多个测量点的空间坐标。

8.根据权利要求1-3中的任何一项所述的方法,

其特征在于,

所述限定空间关系具有比用于确定所述至少一个测量点的所述至少一个空间坐标的所应用的方法的特性分辨率小的容差。

9.根据权利要求8所述的方法,

其特征在于,

所述限定空间关系具有比用于确定所述至少一个测量点的所述至少一个空间坐标的所应用的方法的特性分辨率小至少两个数量级的容差。

10.根据权利要求1-3中的任何一项所述的方法,

其特征在于,

通过至少一个外部勘测仪器(5,6,6')和/或相对于基准坐标系统确定所述移动坐标测量机(1)和所述对象(3)的位置和取向。

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