[发明专利]放射线图像检测装置、放射线摄影系统及其动作方法有效

专利信息
申请号: 201380045149.5 申请日: 2013-06-06
公开(公告)号: CN104582576B 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 田岛崇史;桑原健;北川祐介 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 代理人: 熊传芳,苏卉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 放射线 图像 检测 装置 摄影 系统 及其 动作 方法
【权利要求书】:

1.一种放射线图像检测装置,具有形成有摄像区域的图像检测部,并且与能够配置于该图像检测部的前方的栅格一起使用,

为了除去放射线透过被摄体时产生的散射线,所述栅格中沿第一方向延伸的长条状的放射线透过层和放射线吸收层以栅距G沿与所述第一方向正交的第二方向交替地形成有多个,

在所述摄像区域配置有在所述第二方向上以像素间距Δ配置的多个像素和多个剂量测定传感器,所述多个像素为了检测所述被摄体的放射线图像而能够读出并蓄积与所述放射线的到达剂量对应的电荷,所述多个剂量测定传感器测定所述放射线的到达剂量,

所述放射线图像检测装置中,所述多个剂量测定传感器中的至少一组剂量测定传感器以满足以下条件的方式决定位置:

条件:以周期Z=(R×C)±D配置或选择[C/D]个剂量测定传感器作为一组剂量测定传感器,

其中,各记号如下所述:

C是所述栅格的放射线图像上在所述第二方向上出现的重复图案的周期,单位是像素的个数,

R为0以上的自然数,

D为比所述周期C小的整数,

[C/D]为C/D以下的最大的整数。

2.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置,其中,还具备:

判定部,基于所述一组剂量测定传感器的测定值来判定放射线的照射状态;及

控制部,进行与所述判定部的判定结果对应的控制。

3.根据权利要求2所述的放射线图像检测装置,其中,

所述像素具有:

普通像素,用于检测放射线图像;及

测定像素,具有与该普通像素相同的尺寸且作为所述剂量测定传感器而使用,

所述普通像素和所述测定像素以混杂的状态二维地配置于所述第一方向及所述第二方向上。

4.根据权利要求3所述的放射线图像检测装置,其中,

所述普通像素与所述测定像素连接于共用的信号处理电路,在所述放射线的照射期间,所述普通像素的所述电荷被蓄积,所述测定像素的电荷被取出至所述信号处理电路。

5.根据权利要求3所述的放射线图像检测装置,其中,

D是将至少[C/D]个测定像素沿所述第二方向每次错开一个像素地错开C次时使[C/D]个测定像素的输出的各次的输出值的偏差收敛在±k%的范围内的值,其中,k<50。

6.根据权利要求5所述的放射线图像检测装置,其中,

D的值通过以所述各次的输出值中的最小值为基准来判定所述各次的输出值的偏差是否收敛在±k%的范围内而求出。

7.根据权利要求5所述的放射线图像检测装置,其中,

一组所述测定像素除了[C/D]个以外还容许存在满足以下条件式的N个测定像素,

条件式:N≤[C/D]{(1+k)Xave[C/D]min-Xave[C/D]max}/{Xmin(a-k)}

其中,各记号如下所述:

Xave[C/D]min为所述[C/D]个测定像素的输出的平均值的最小值,

Xave[C/D]max为所述[C/D]个测定像素的输出的平均值的最大值,

Xmin为所述N个测定像素配置于最不受所述放射线吸收层影响 的所述像素的位置的情况下的输出,

a为表示最受所述放射线吸收层影响的所述像素与最不受所述放射线吸收层影响的所述像素的像素值之差的变动系数。

8.根据权利要求5~7中任一项所述的放射线图像检测装置,其中,

D=1以使所述各次的输出值为相同的值。

9.根据权利要求5~7中任一项所述的放射线图像检测装置,其中,k≤5。

10.根据权利要求5~7中任一项所述的放射线图像检测装置,其中,k≤2.5。

11.根据权利要求3所述的放射线图像检测装置,其中,

在选择性地使用一组所述测定像素的配置周期Z的条件不同的多个栅格的情况下,使用多个配置周期Z的最小公倍数作为各栅格共用的配置周期Z。

12.根据权利要求3所述的放射线图像检测装置,其中,

所述判定部判定对由各测定像素测定出的放射线剂量进行累计而得到的合计放射线剂量或其平均值是否达到目标剂量,在判定为合计放射线剂量或平均值达到了目标剂量时,进行使放射线的照射停止的自动曝光控制。

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