[发明专利]有可访问和不可访问的物理不可克隆功能的集成电路有效
申请号: | 201380045418.8 | 申请日: | 2013-06-12 |
公开(公告)号: | CN104584435B | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | K·C·高特兹;G·M·约维诺;李江滔;D·约翰斯顿;S·K·马修;G·W·考克斯;A·拉詹 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | H03K19/003 | 分类号: | H03K19/003;H04L9/08;G09C1/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 张东梅 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 访问 不可 物理 克隆 功能 集成电路 | ||
技术领域
各实施例涉及集成电路。具体而言,各实施例涉及具有物理不可克隆功能的集成电路。
背景技术
计算机、蜂窝电话、多媒体内容播放器和各种其他类型的电子设备通常用来处理敏感的或安全信息(例如,财务信息、保密文档、个人电子邮件、数字版权保护内容等)。在这样的电子设备中使用的集成电路通常提供有用来保护敏感或安全信息的一个或两个秘密——诸如一个或多个安全密钥。安全密钥可用来以各种方式保护敏感或安全信息,诸如通过加密/解密、认证、数字签名和其他已知的密码方法。
提供带安全密钥的集成电路的一种方式是以数字形式将安全密钥编程或存储在熔丝和/或存储器中(例如各种类型的只读存储器(ROM))。然而,这种方案的一个缺点是,以数字形式存储在存储器和/或熔丝中的安全密钥往往在某种程度上容易被发现。尽管安全密钥一般不能被直接读出,但侵入式攻击和/或逆向工程可用来获得安全密钥。允许安全密钥被获得可违背或至少有助于违背敏感信息的安全性。附加地,这样提供秘密密码密钥甚至意味着他们被暴露于制造商的密钥生成、设备设计和制造基础架构的一部分。
物理不可克隆功能(PUF)提供以数字形式将安全密钥存储在存储器和/或熔丝中的替换方式。PUF用于安全性的一个优点是,PUF往往比以数字形式存储在存储器和/或熔丝中的安全密钥要显著地难以发现。PUF可用来在运行时期间生成可用于安全性的PUF位。PUF位通常由PUF位错误级别和PUF位熵级别来表征。
附图说明
本发明可通过参考用来示出本发明的实施例的以下描述和附图来最好地理解。在附图中:
图1是有暴露和/或外置的电触头、不可访问的PUF单元的第一集合和可访问的PUF单元的第二集合的集成电路衬底的实施例的框图。
图2是有非常接近的不可访问的PUF单元的第一集合和可访问的PUF单元的第二集合的管芯的实施例的框图。
图3是有在管芯上物理上彼此分开的不可访问的PUF单元的第一集合和可访问的PUF单元的第二集合的管芯的实施例的框图。
图4是有每一个都在相对应的管芯内的不可访问的PUF单元的第一集合和至少一组将在划片期间移除的切除区域中的可访问的PUF单元的第二集合的晶圆的实施例的框图。
图5是示出了在一些实施例中可访问的PUF单元的集合和/或可访问的PUF位的集合可不用于集成电路衬底的安全性的集成电路衬底的实施例的框图。
图6是示出了在其他实施例中可访问的PUF单元的集合和/或可访问的PUF位的集合可用于集成电路衬底的安全性的集成电路衬底的实施例的框图。
图7是用于生成可通过暴露和/或外置电触头而访问的可访问的PUF位的集合的可访问的PUF单元的集合的示例实施例的框图。
图8是测试集成电路的方法的实施例的流程框图。
图9是与多个集成电路测试装备耦合的PUF位的存储和分析系统的框图。
图10A是根据本发明的各实施例示出了示例性有序流水线和示例性寄存器重命名、无序发出/执行流水线二者的框图。
图10B是根据本发明的各实施例示出了将包括在处理器中的示例性的有序体系结构核的实施例和示例性寄存器重命名、无序发出/执行体系结构核二者的框图。
图11A是根据本发明的各实施例的单个处理器核以及它与晶片上互连网络的连接和它的二级(L2)高速缓存本地子集的框图。
图11B是根据本发明的各实施例的图11A中的处理器核的一部分的展开图。
图12是根据本发明的各实施例的可有多于一个核、可有集成的存储器控制器、和可有集成图形的处理器的框图。
图13示出的是根据本发明一实施例的系统1300的框图。
图14示出的是根据本发明实施例的第一更具体的示例性系统1400的框图。
图15示出的是根据本发明实施例的第二更具体的示例性系统1400的框图。
图16示出的是根据本发明实施例的SoC的框图。
图17是对比根据本发明的各实施例使用软件指令转换器将源指令集的二进制指令转换成目标指令集的二进制指令的框图。
具体实施方式
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