[发明专利]放射能分析装置有效

专利信息
申请号: 201380046939.5 申请日: 2013-04-09
公开(公告)号: CN104620131B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 东哲史;林真照;西泽博志;仲岛一;猪又宪治;中西正一;相场俊英 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G01T1/17 分类号: G01T1/17;G01T1/167;G01T1/20
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 李今子
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 放射 分析 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及放射能分析装置,特别涉及具备诊断放射线检测器的劣化状态的系统的装置。

背景技术

在发生核电站的事故等,放射性物质在环境中飞散的情况下,需要检查食品、水、土壤等的放射能污染。放射能分析装置是检测从食品等测定试样所包含的放射性核素放出的放射线,并测定其能量以及强度,实施放射性核素的辨别以及定量分析等的装置,在其分析中要求高的精度以及稳定性。

例如,在专利文献1中,公开了如下方法:通过使用了作为逆问题运算的一种的响应函数的展开,实现比较良好的能量分辨率,进行核素的辨别,并且推测每个核素针对全射线量的贡献。

另外,在专利文献2中,公开了如下方法:通过使用了针对每个能量选择的响应函数的展开,校正放射线图像的模糊。

专利文献1:日本特表第2008-545979号公报

专利文献2:日本特开第2006-234727号公报

非专利文献1:G.F.Knoll著(木村逸郎,阪井英次译)“放射線計測ハンドブック第2版8.2.2アルカリハライドシンチレータの特性”、日刊工业新闻社、p.244-247

发明内容

已知:在放射能分析装置中,由于放射线检测器的经年劣化等,能量分辨率、检测效率降低,因此,放射性核素的辨别以及定量分析的精度恶化。

但是,一般,没有用于容易地掌握放射线检测器的劣化状态的适合的手段,所以广泛使用以预测到放射线检测器的故障以及重大的劣化现象的发生的时期为目标而定期更换的保全手法TBM(Time Based Maintenance,基于时间的维修),无法使用根据放射线检测器的劣化状态预测更换时期的状态基准保全手法CBM(Condition Based Maintenance,基于状态的维修)。

因此,无法进行与放射线检测器的状态对应的适合的更换,在达到放射线检测器的寿命之前更换,作为结果,更换次数增加,对用户产生费用方面上的负担。另外,即使是定期更换时期前,也存在由于使用环境等而放射线检测器劣化的情况,无法避免在该情况下产生的检测精度的降低。

本发明的目的在于提供一种具备能够容易地推测放射线检测器的劣化状态的系统的放射能分析装置。

为了达成上述目的,本发明的一个方式是一种放射能分析装置,分析测定试样中包含的放射性核素,

所述放射能分析装置具备:

放射线检测器,检测从测定试样放出的被测定放射线;以及

放射线分析部,根据放射线检测器的输出,分析被测定放射线,

放射线分析部具有:

波高分析单元,根据从放射线检测器输出的与被测定放射线对应的脉冲信号,抽出脉冲波高分布;

逆问题运算单元,针对所抽出的脉冲波高分布实施逆问题运算,抽出被测定放射线的能量谱;以及

劣化诊断单元,根据所抽出的能量谱,诊断放射线检测器的劣化状态。

在本发明的一个方式中,优选的是,劣化诊断单元通过分析在所抽出的能量谱中产生的噪声,诊断放射线检测器的劣化状态。

在本发明的一个方式中,优选的是,劣化诊断单元根据所抽出的能量谱中的噪声发生比例,诊断放射线检测器的劣化状态。

在本发明的一个方式中,优选的是,放射线分析部还具有自动校正单元,该自动校正单元用于补偿所输出的脉冲信号的信号放大率的变动,

自动校正单元根据基于所抽出的脉冲波高分布计算的放射线检测器的放大率变动值,使所抽出的能量谱沿着能量轴偏移。

在本发明的一个方式中,优选的是,放射线分析部还具有响应函数计算单元,该响应函数计算单元计算在逆问题运算中使用的放射线检测器的响应函数。

在本发明的一个方式中,优选的是,劣化诊断单元计算与放射线检测器的劣化状态对应的劣化发展等级,

响应函数计算单元计算与所计算出的劣化发展等级对应的响应函数。

在本发明的一个方式中,优选的是,放射线检测器是闪烁检测器,该闪烁检测器具有:放射线检测部,检测被测定放射线来发生闪烁光;以及光电变换部,对闪烁光进行光电变换,

响应函数计算单元根据放射线行为解析、或者将该放射线行为解析和光线行为解析进行了组合的解析的至少一方,计算响应函数,其中,在所述放射线行为解析中,对在由放射性核素放出之后直至向放射线检测部赋予能量为止的被测定放射线的行为进行解析,在所述光线行为解析中,对在放射线检测部中发生之后直至到达光电变换部而被光电变换为止的闪烁光的行为进行解析。

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