[发明专利]处理液供给装置及方法、处理液及基板处理装置及方法有效

专利信息
申请号: 201380047457.1 申请日: 2013-09-26
公开(公告)号: CN104662644B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 宫城雅宏;荒木浩之;铃木政典;佐藤朋且;川濑信雄 申请(专利权)人: 斯克林集团公司
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;B08B3/02;G21K5/00;G21K5/02;G21K5/10;H05F1/00;H05F3/06;B01J4/00;B05C11/08;B05C11/10
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 金相允;向勇
地址: 日本国京*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 处理 供给 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种处理液供给装置,用于从喷出口喷出处理液,来将该处理液供给至处理对象物,其特征在于,包括:

第一管,能够使处理液在内部流动,该第一管的内部与所述喷出口相连通;

X射线照射单元,用于向在所述第一管内存在的处理液照射X射线;

在所述第一管的管壁上具有开口,

所述开口被窗构件堵塞,所述窗构件由能够使X射线透过的材料形成,

所述X射线照射单元,经由所述窗构件向在所述第一管内存在的处理液照射X射线。

2.如权利要求1所述的处理液供给装置,其特征在于,所述窗构件由铍或聚酰亚胺树脂形成。

3.如权利要求1所述的处理液供给装置,其特征在于,在所述窗构件的存在处理液的一侧的壁面,形成有保护膜。

4.如权利要求3所述的处理液供给装置,其特征在于,所述保护膜是含有聚酰亚胺树脂、类金刚石碳、氟类树脂及烃类树脂中的一种以上材料的保护膜。

5.如权利要求1所述的处理液供给装置,其特征在于,所述X射线照射单元包括X射线发生器,所述X射线发生器用于发生X射线,并具有与所述窗构件相向配置的照射窗,从所述照射窗照射所发生的X射线。

6.如权利要求5所述的处理液供给装置,其特征在于,所述X射线照射单元还包括:

罩体,以与所述X射线发生器相隔开的方式包围该X射线发生器的周围;

气体供给单元,用于向所述罩体的内部供给气体。

7.如权利要求1所述的处理液供给装置,其特征在于,

所述第一管包括处理液管,在所述处理液管的内部,处理液向所述喷出口流动,

所述X射线照射单元向在所述第一管内流动的处理液照射所述X射线。

8.如权利要求1所述的处理液供给装置,其特征在于,

所述处理液供给装置还包括处理液管,在所述处理液管的内部,处理液向所述喷出口流动,

所述第一管包括从所述处理液管分支而成的分支管。

9.如权利要求1所述的处理液供给装置,其特征在于,还包括配置在所述喷出口的纤维状物质,从该喷出口喷出的处理液沿着该纤维状物质流动。

10.如权利要求1所述的处理液供给装置,其特征在于,还包括:

电极,配置在所述第一管上的比所述X射线的照射位置更靠处理液流动方向上的下游侧的位置;

电源,用于对所述电极施加电压。

11.如权利要求10所述的处理液供给装置,其特征在于,所述电极配置在所述第一管的前端部。

12.如权利要求1所述的处理液供给装置,其特征在于,还包括:

处理液检测单元,用于检测在所述第一管的所述X射线的照射位置是否存在处理液;

X射线照射控制单元,在所述照射位置存在处理液时,使所述X射线照射单元照射X射线,在所述照射位置不存在处理液时,使所述X射线照射单元不照射X射线。

13.一种基板处理装置,其特征在于,

包括:

基板保持单元,用于保持基板,

权利要求1~7、9~12中任一项所述的处理液供给装置;

从所述喷出口喷出的处理液供给至所述基板的主面。

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