[发明专利]接合基板的方法有效
申请号: | 201380048727.0 | 申请日: | 2013-08-22 |
公开(公告)号: | CN104685607B | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 凯瑟拉·拉马亚·纳伦德纳斯;甘加达尔·希拉瓦特;默尼卡·阿咖瓦;阿西斯·巴哈特纳瓜 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/20 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国,赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接合 方法 | ||
1.一种组件,包括:
第一基板;
第二基板;
粘结层,所述粘结层固定所述第一基板和所述第二基板;和
沟道,所述沟道具有由所述粘结层界定的至少一侧并且具有暴露于所述组件的外部的出口,由所述粘结层固定的所述基板形成用于半导体真空处理腔室的部件。
2.如权利要求1所述的组件,其中所述粘结层包括:
多个区段。
3.如权利要求2所述的组件,其中所述多个区段包括:
由不同的粘结材料制造的至少两个区段。
4.如权利要求2所述的组件,其中所述多个区段包括:
第一区段,所述第一区段由第一粘结材料组成,所述第一粘结材料具有不同于第二粘结材料的导热系数,所述第二粘结材料包括第二区段。
5.如权利要求2所述的组件,其中所述多个区段包括:
第一区段,所述第一区段由第一粘结材料组成,所述第一粘结材料具有不同于第二粘结材料的强度,所述第二粘结材料包括第二区段。
6.如权利要求1所述的组件,其中所述粘结层具有大于0.3W/mK的导热率。
7.如权利要求1所述的组件,其中所述第一基板为静电圆盘或气体分配板。
8.一种制造组件的方法,所述方法包括以下步骤:
将粘结层施加至第一基板上;
将第二基板放置至所述粘结层上,从而将两个所述基板固定在一起,所述粘结层界定沟道的至少一侧,所述沟道在所述基板之间横向延伸至所述组件的外部;和
使所述基板和所述粘结层经受接合工序,并且允许挥发物从所述粘结层释气以通过所述沟道从所述基板之间逸出,其中由所述粘结层接合的所述基板形成用于半导体真空处理腔室的部件。
9.一种整修具有通过粘结层结合在一起的第一基板和第二基板的组件的方法,其中所述粘结层的至少一侧界定沟道,所述沟道在所述基板之间横向延伸至所述组件的外部,所述方法包括以下步骤:
将接合削弱剂通过所述沟道引入至所述粘结层的内部区域;
分离所述基板;
整修所述第一基板;和
使用经整修的所述第一基板形成整修组件。
10.如权利要求9所述的方法,其中形成所述整修组件进一步包括:使所述经整修的第一基板结合至经整修的第二基板或新的第二基板中的一个。
11.如权利要求9所述的方法,其中形成所述整修组件进一步包括:允许使所述经整修的第一基板结合至经整修的第二基板或新的第二基板中的一个的新粘结层通过沟道通气,所述沟道具有由所述粘结层界定的一侧并且在所述基板之间延伸至所述整修组件的外部。
12.一种静电夹盘组件,包括:
静电圆盘;
温度控制基底;
粘结层,所述粘结层固定所述静电圆盘和所述温度控制基底;和
沟道,所述沟道具有由所述粘结层界定的至少一侧并且具有暴露于所述组件的外部的出口。
13.如权利要求12所述的组件,其中所述沟道被限定在形成所述粘结层的多个区段之间。
14.如权利要求12所述的组件,进一步包括限定所述粘结层的密封环。
15.如权利要求12所述的组件,其中所述粘结层具有大于0.3W/mK的导热率。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造