[发明专利]处理系统

权利要求书

1.一种用于处理有机体的本体的一部分的处理系统（200、300、400），所述处理系统（200、300、400）包括：

暂时地或永久地将治疗设备（112、162、188、210）放置在有机体的本体的一部分中的处理设备（100、150、180），该处理设备（100、150、180）包括用于被插入所述本体的部分中的伸长主体（102、152），所述伸长主体（102、152）包括；

-通道，用于将所述治疗设备（112、162、188、210）引导到所述通道内的具体位置（P1、P3、P4）和/或用于在所述通道内的所述具体位置（P1、P3、P4）处保持所述治疗设备（112、162、188、210），

-被配置成耦合到检测设备（214、320）的阻抗传感器元件（104、154、206、306），所述检测设备用于基于由所述阻抗传感器元件（104、154、206、306）提供的信号的改变来检测所述治疗设备（112、162、188、210）在所述具体位置（P1、P3、P4）处的存在,

-可连接到所述处理设备（100、150、180）的阻抗传感器元件（104、154、206、306）的检测设备（214、320），以用于响应于所述治疗设备（112、162、188、210）在所述具体位置（P1、P3、P4）处的存在来检测由所述阻抗传感器元件（104、154、206、306）提供的信号的改变，

-可连接到所述处理设备（100、150、180）的阻抗传感器元件（104、154、206、306）的追踪设备（218、324），以用于追踪所述阻抗传感器元件（104、154、206、306）相对于场发生器（202）的固定位置的相对位置，所述场发生器（202）生成可由所述阻抗传感器元件（104、154、206、306）检测的电磁场（204）。

2.根据权利要求1所述的处理系统（200、300、400），其中所述阻抗传感器元件（104、154、206、306）包括用于检测所述具体位置（P1、P3、P4）处的电磁场的线圈（154、206、306）。

3.根据权利要求2所述的处理系统（200、300、400），其中所述线圈（154、206、306）围绕所述通道布置。

4.根据权利要求1所述的处理系统（200、300、400），其中所述伸长主体（102、152）包括针、探针、套针、套管或者导管。

5.根据权利要求1所述的处理系统（200、300、400），其中所述伸长主体（102、152）包括被配置成耦合到所述检测设备（214、320）的另外的阻抗传感器元件（208、306），以用于与经由所述阻抗传感器元件的检测合作地基于由所述阻抗传感器元件（104、154、206、306）提供的和/或由所述另外的阻抗传感器元件（208、306）提供的信号的改变来检测所述治疗设备（112、162、188、210）在所述具体位置（P1、P3、P4）处的存在。

6.根据权利要求5所述的处理系统（200、300、400），其中所述另外的阻抗传感器元件（208、306）包括围绕所述通道布置以用于检测所述具体位置（P1、P3、P4）处的电磁场的另外的线圈（208、306）。

7.根据权利要求5所述的处理系统（200、300、400），其中所述阻抗传感器元件（104、154、206、306）和所述另外的阻抗传感器元件（208、306）中的至少一个被配置成检测由布置在相对于所述本体的固定位置处的场发生器（202）生成的电磁场（204），并且所述追踪设备（218、324）可连接到所述阻抗传感器元件（104、154、206、306）或者所述另外的阻抗传感器元件（208、306）。